[发明专利]高功率高光束质量光学相控阵扫描装置无效

专利信息
申请号: 201110332273.2 申请日: 2011-10-27
公开(公告)号: CN102354056A 公开(公告)日: 2012-02-15
发明(设计)人: 闫爱民;刘立人;孙建锋 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G02B27/44 分类号: G02B27/44;G02B5/18
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种高功率高光学质量光学相控阵扫描装置,该装置依次由主振激光器、达曼光栅分束器、第一傅立叶透镜、电控相控阵、第二傅立叶透镜、激光放大器阵列、达曼输入相位平板、第三傅立叶透镜、合束相位补偿器。本发明提供一种高功率高光束质量光学相控阵扫描装置,实现高指向精度、高分辨率和快速高功率激光光束的无机械扫描。具有结构和原理简单,不需复杂相位精确检测,性能稳定可靠的特点,可广泛应用于需要大功率激光发射源以及无机械激光光束扫描的相关领域,特别适用于远程激光雷达、激光武器等领域,对于发展紧凑型、轻量化和高光束质量的高功率激光器和光束扫描系统具有实际意义。
搜索关键词: 功率 光束 质量 光学 相控阵 扫描 装置
【主权项】:
一种高功率高光束质量光学相控阵扫描装置,其特征在于该装置依次由主振激光器(1)、达曼光栅分束器(2)、第一傅立叶透镜(3)、电控相控阵(4)、第二傅立叶透镜(5)、激光放大器阵列(6)、达曼输入相位平板(7)、第三傅立叶透镜(8)和合束相位补偿器(9)构成,所述的达曼光栅分束器(2)和电控相控阵(4)分别置于所述的第一傅立叶透镜3的物面和频谱面上;所述的电控相控阵(4)和激光放大器阵列(6)的前端面分别放置于第二傅立叶透镜(5)的物面和频谱面上;所述的达曼输入相位平板(7)和合束相位补偿器(9)分别放置于所述的第三傅立叶透镜(8)的物面和频谱面上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110332273.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top