[发明专利]CCD芯片性能参数的测量系统无效
| 申请号： | 201110329066.1 | 申请日： | 2011-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN102508141A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 邵晓鹏;王杨;刘飞;许宏涛;马菁汀;徐大雍;卢光旭;范华;杨晓辉;乔琳 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01M11/02 |
| 代理公司： | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人： | 王品华;朱红星 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种CCD芯片性能参数的测量系统，主要解决现有系统不具有通用性、测量参数不全面和光谱范围窄的不足。整个系统包括可调单色光源系统(1)、积分球(4)、暗室(5)、杜瓦瓶温控室(9)、皮安表(10)、主控电路系统(11)和主控计算机(14)，待测CCD和标准探测器安放在杜瓦瓶温控室中，调节可调单色光源系统输出单色光，该单色光经过积分球和暗室转变为均匀光后，照射在待测CCD和标准探测器上，待测CCD由主控电路系统驱动成像，并将CCD的输出信息上传到主控计算机上，主控计算机根据图像信息计算出待测CCD的性能参数。本发明具有通用性强、测量参数全面和稳定性高的优点，适用于对所有CCD芯片的测量。 | ||
| 搜索关键词： | ccd 芯片 性能参数 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种CCD芯片性能参数测量系统，包括可调单色光源系统(1)、积分球(4)、暗室(5)、主控电路系统(11)和主控计算机(14)，主控计算机(14)分别与可调单色光源系统(1)和主控电路系统(11)双向连接，可调单色光源系统(1)通过积分球(4)与暗室(5)连接，其特征在于：暗室(5)与主控电路系统(11)之间设有杜瓦瓶温控室(9)，该杜瓦瓶温控室(9)内放置有待测CCD芯片(6)、标准探测器(7)和PID温控仪(8)；主控电路系统(11)包括：CCD通用驱动电路(12)和USB通信电路(13)；待测CCD芯片(6)与CCD通用驱动电路(12)连接；标准探测器(7)通过皮安表(10)与USB通信电路(13)连接。
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