[发明专利]二元光掩模坯料和二元光掩模制造方法有效
申请号: | 201110310117.6 | 申请日: | 2011-08-04 |
公开(公告)号: | CN102375326A | 公开(公告)日: | 2012-03-14 |
发明(设计)人: | 吉川博树;稻月判臣;西川和宏;金子英雄 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00;G03F1/26 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 李跃龙 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种二元光掩模坯料和二元光掩模制造方法。本发明的二元光掩模坯料具有在透明衬底上的遮光膜,其包括衬底侧和表面侧的组成渐变层,具有35-60nm的厚度,并由包含过渡金属和N和/或O的硅基材料构成。衬底侧的组成渐变层具有10-58.5nm的厚度,并且N+O的含量在其下表面处为25-40原子%,在其上表面处为10-23原子%。表面侧的组成渐变层具有1.5-8nm的厚度,并且N+O的含量在其下表面处为10-45原子%,而在其上表面处为45-55原子%。 | ||
搜索关键词: | 二元 光掩模 坯料 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种二元光掩模坯料,其包含透明衬底和其上的遮光膜,该遮光膜具有2.5‑3.5的光密度,其中所述遮光膜包括与衬底邻接设置的衬底侧的组成渐变层,和远离衬底设置的表面侧的组成渐变层,具有35‑60nm的厚度,并由包含过渡金属以及氮和/或氧的硅基材料构成,所述衬底侧的组成渐变层是具有10‑58.5nm厚度的层,其中氮和氧的总含量在厚度方向上向着衬底增加,所述衬底侧的组成渐变层包括其组成在厚度方向上连续变化的层,各自具有一致组成的至少三个层的组合,具有一致组成的层和其组成在厚度方向上连续变化的层的组合,或者其组成在厚度方向上连续变化的层的组合,构成所述衬底侧的组成渐变层的硅基材料以1∶2到1∶9的原子比例包含过渡金属和硅,在所述衬底侧的组成渐变层中的氮和氧的总含量在与衬底邻接的表面处为25‑40原子%,而在远离衬底的表面处为10‑23原子%,所述表面侧的组成渐变层是具有1.5‑8nm厚度的层,其中氮和氧的总含量在厚度方向上向着衬底减少,所述表面侧的组成渐变层包含其组成在厚度方向上连续变化的层,各自具有一致组成的至少两个层的组合,具有一致组成的层和其组成在厚度方向上连续变化的层的组合,或者其组成在厚度方向上连续变化的层的组合,构成所述表面侧的组成渐变层的硅基材料以1∶2到1∶9的原子比例包含过渡金属和硅,在所述表面侧的组成渐变层中的氮和氧的总含量在与衬底邻近的表面处为10‑45原子%,而在远离衬底的表面处为45‑55原子%。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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