[发明专利]一种静电力显微镜的间歇接触式测量方法无效

专利信息
申请号: 201110310043.6 申请日: 2011-10-13
公开(公告)号: CN102507986A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 丁喜冬;李超;林国淙 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: G01Q60/00 分类号: G01Q60/00
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 禹小明;邱奕才
地址: 510275 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种静电力显微镜的间歇接触式测量方法,所述静电力显微镜包括扫描头、探针、探针位置感应器、压电激振器、压电扫描器、低频电压信号发生器、高频电压信号发生器、低频振动信号检测器、高频振动信号检测器和控制器,所述压电扫描器上放置有样品,本发明在现有静电力显微镜基础上,采用探针和样品间歇接触的扫描模式、一遍扫描同时得到形貌和静电力图像,扫描成像速度可提高一倍,同时可提高信号检测的灵敏度。
搜索关键词: 一种 静电力 显微镜 间歇 接触 测量方法
【主权项】:
一种静电力显微镜的间歇接触式测量方法,所述静电力显微镜包括由探针(1‑1)、探针位置感应器(1‑2)、压电激振器(1‑3)和压电扫描器(1‑5)组成的扫描头(1)、以及低频电压信号发生器(2)、高频电压信号发生器(3)、低频振动信号检测器(4)、高频振动信号检测器(5)和控制器(6),所述压电扫描器(1‑5)上放置有样品(1‑4),其特征在于测量方法同时进行如下操作:操作A、由低频电压信号发生器(2)产生对应探针(1‑1)较低本征频率相同或接近的电压信号,并施加在与探针(1‑1)紧密相连的压电激振器(1‑3)上,从而激发探针(1‑1)在低频振动模式上振动,探针位置感应器(1‑2)感应到这种振动并将它传送到低频振动信号检测器(4),测量出其振幅和相位信号,控制器(6)控制压电扫描器(1‑5)使探针(1‑1)在样品(1‑4)上扫描从而得到样品形貌图;操作B、由高频电压信号发生器(3)产生对应探针(1‑1)较高本征频率相同或接近的电压信号,并施加探针(1‑1)和/或样品(1‑4)上,探针(1‑1)和样品(1‑4)间的静电力相互作用,激发探针(1‑1)在高频振动模式上振动,探针位置感应器(1‑2)感应到这种振动并将它传送到高频振动信号检测器(5),测量出其振幅和相位信号,控制器(6)利用该振幅和相位信号进行成像,得出静电力分布的二维图像。
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