[发明专利]一种共阴、共阳封装二极管对的测试方法有效
| 申请号： | 201110298889.2 | 申请日： | 2011-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN102393500A | 公开（公告）日： | 2012-03-28 |
| 发明（设计）人： | 赵振华 | 申请（专利权）人： | 赵振华;无锡罗姆半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/12;G01R31/02;G01R19/10;G01R27/32 |
| 代理公司： | 江苏英特东华律师事务所 32229 | 代理人： | 邵鋆 |
| 地址： | 214001 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种共阴、共阳封装二极管对的测试方法，属于电子产品领域，方案是：分别测试两臂两个二极管各自的击穿电压、反向漏电流和正向导通电压，并且比较每组数据的差别，差别范围设定为±5%；测试和比较两臂两个二极管的瞬态热阻：通电时间为0.38~2ms的冷态导通电压值（Vonl）与通电时间为10~100ms的热态导通电压值（Vonr）的差值；每个二极管各自的冷热态导通电压之差不大于100-300mV，两臂两个二极管的这个差值之差不能大于15-30mV；满足上述条件的为良品。本发明的方法更贴近实践使用，得到的结果能可靠反映产品实践性能，通过测试的产品质量等级高，使用寿命更长。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 封装 二极管 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种共阴、共阳封装二极管对的测试方法，分别测试两臂两个二极管各自的击穿电压、反向漏电流和正向导通电压，并且比较每组数据的差别，差别范围设定为±5%；测试和比较两臂两个二极管的瞬态热阻：通电时间为0.38~2ms的冷态导通电压值（Vonl）与通电时间为10~100ms的热态导通电压值（Vonr）的差值；每个二极管各自的冷热态导通电压之差不大于100‑300mV，两臂两个二极管的这个差值之差不能大于15‑30 mV；满足上述条件的为良品。
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