[发明专利]一种ZnO基透明导电薄膜的制备方法无效
申请号: | 201110286754.4 | 申请日: | 2011-09-26 |
公开(公告)号: | CN102330075A | 公开(公告)日: | 2012-01-25 |
发明(设计)人: | 谭劲;钟爱华;鄢维;张玮 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(武汉) |
主分类号: | C23C18/12 | 分类号: | C23C18/12 |
代理公司: | 武汉华旭知识产权事务所 42214 | 代理人: | 周宗贵;刘荣 |
地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种采用喷雾热解法制备ZnO基透明导电薄膜的方法,包括以下步骤:配制Zn源和掺杂离子源构成的前驱体溶液,前驱体溶液中Zn2+的浓度为0.01mol/L~5mol/L,Zn2+和掺杂离子的摩尔配比为1∶0.01~0.3;在前驱体溶液中加入酸和有机溶剂,然后将前驱体溶液雾化,雾化后的溶液经载气运送至薄膜生长室,在温度为250℃~850℃的衬底表面上分解沉积生成ZnO基透明导电薄膜。本发明提供的制备ZnO基透明导电薄膜的方法,设备与原料成本较低,工艺简单、生产周期短,所制得的产品表面电阻率小且透光率高。 | ||
搜索关键词: | 一种 zno 透明 导电 薄膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种ZnO基透明导电薄膜的制备方法,包括以下步骤:(1)配制Zn源和掺杂离子源构成的前驱体溶液,前驱体溶液中Zn2+的浓度为0.01mol/L~5mol/L,Zn2+和掺杂离子的摩尔配比为1∶0.01~0.3,其中掺杂离子至少包括Al3+、In3+、Ga3+、Sn4+和F‑中的一种;(2)在前驱体溶液中加入酸和有机溶剂,使前驱体溶液的PH值调节至1.50~6.00并且使前驱体溶液中的Zn离子和掺杂离子均匀混合,加入的酸至少包括醋酸、草酸、柠檬酸、水杨酸、抗坏血酸、硝酸和盐酸中的一种,加入的有机溶剂至少包括乙醇、甲醇和丙酮中的一种;(3)将混合均匀的前驱体溶液雾化,雾化后的溶液经载气运送至薄膜生长室,在温度为250℃~850℃的衬底表面上分解沉积生成ZnO基透明导电薄膜,衬底为单晶硅片、硅酸盐玻璃、石英玻璃、蓝宝石或碳化硅片。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国地质大学(武汉),未经中国地质大学(武汉)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110286754.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种线缆存放小车
- 下一篇:一种复卷机的放卷装置
- 同类专利
- 专利分类
C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C18-00 通过液态化合物分解抑或覆层形成化合物溶液分解、且覆层中不留存表面材料反应产物的化学镀覆
C23C18-02 .热分解法
C23C18-14 .辐射分解法,例如光分解、粒子辐射
C23C18-16 .还原法或置换法,例如无电流镀
C23C18-54 .接触镀,即无电流化学镀
C23C18-18 ..待镀材料的预处理
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C18-00 通过液态化合物分解抑或覆层形成化合物溶液分解、且覆层中不留存表面材料反应产物的化学镀覆
C23C18-02 .热分解法
C23C18-14 .辐射分解法,例如光分解、粒子辐射
C23C18-16 .还原法或置换法,例如无电流镀
C23C18-54 .接触镀,即无电流化学镀
C23C18-18 ..待镀材料的预处理