[发明专利]一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法无效
申请号: | 201110266005.5 | 申请日: | 2011-09-09 |
公开(公告)号: | CN102998611A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 张瑞 | 申请(专利权)人: | 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 李烨 |
地址: | 300192*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明属于稳定平台自动跟踪系统控制电路检测技术领域,具体涉及一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法。目的是提供一种不依赖外部仪器,减少人工操作的快速检测方法。包含如下步骤:步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号,将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0;步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连,使DAC输出零值,ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0,即得到DAC的零位数据D0;步骤3、DAC输出变化信号,使用ADC进行读取,通过读取的数据与输出的数据进行比对。优点是:使用工装将电路本身的DAC和ADC闭环联结,通过测试程序使DAC输出测试用模拟信号,对电路上ADC进行检测。ADC通过读取的模拟信号对电路上DAC进行检测。完成闭环测试。 | ||
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【主权项】:
一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法,其特征在于:包含如下步骤:步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号,将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0,用于校准ADC读数;步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连,使DAC输出零值,ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0,即得到DAC的零位数据D0,用于校准DAC的输出;步骤3、DAC输出变化信号,信号幅度为DAC的上下极限输出值,每一次的变化幅度为最低数据位,使用ADC进行读取,通过读取的数据与输出的数据进行比对,此时的数据均通过步骤1和步骤2中得到的零位数据进行修正;如果步骤1和步骤2的零位数据满足预定的要求,并且步骤3中DAC输出信号和ADC读取信号一致,则被检测件通过检测;否则,被检测件没有通过检测。
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