[发明专利]一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法无效
申请号: | 201110266005.5 | 申请日: | 2011-09-09 |
公开(公告)号: | CN102998611A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 张瑞 | 申请(专利权)人: | 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 李烨 |
地址: | 300192*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 包含 adc dac 电路 快速 检测 方法 | ||
1.一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法,其特征在于:包含如下步骤:
步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号,将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0,用于校准ADC读数;
步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连,使DAC输出零值,ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0,即得到DAC的零位数据D0,用于校准DAC的输出;
步骤3、DAC输出变化信号,信号幅度为DAC的上下极限输出值,每一次的变化幅度为最低数据位,使用ADC进行读取,通过读取的数据与输出的数据进行比对,此时的数据均通过步骤1和步骤2中得到的零位数据进行修正;
如果步骤1和步骤2的零位数据满足预定的要求,并且步骤3中DAC输出信号和ADC读取信号一致,则被检测件通过检测;
否则,被检测件没有通过检测。
2.如权利要求1所述的一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法,其特征在于:
在步骤3中通过检测之后,将测的零位数据A0和D0记录到板上的存储器件中。
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