[发明专利]一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法

说明书

技术领域

本发明属于稳定平台自动跟踪系统控制电路检测技术领域，涉及一种电路快速检测技术。 

背景技术

稳定平台自动跟踪系统在军事上获得了广泛的应用，要获得良好的稳定跟踪性能，采集稳定平台上传感器信息的ADC和控制稳定平台运动的DAC都需要较高精度。为了提高精度和使控制电路具备通用性。需要对每块电路板上ADC和DAC进行详细的测试，并对电路的初始零位进行测试并进行补偿。 

人工对每块电路进行测试需要专用的仪器(高精度信号发生器和高精度数字示波器)和一定的专业技能，并需要较长时间。 

发明内容

本发明的目的是在于提供一种对包含ADC和DAC的电路的不依赖外部仪器，减少人工操作的快速检测方法。 

本发明是这样实现的：一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，其中，包含如下步骤： 

步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0，用于校准ADC读数； 

步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连，使DAC输出零值，ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0，即得到DAC的零位数据D0，用于校准DAC的输出； 

步骤3、DAC输出变化信号，信号幅度为DAC的上下极限输出值，每一次的变化幅度为最低数据位，使用ADC进行读取，通过读取的数据与输出的数据进行比对，此时的数据均通过步骤1和步骤2中得到的零位数据进行修正； 

如果步骤1和步骤2的零位数据满足预定的要求，并且步骤3中DAC输出信号和ADC读取信号一致，则被检测件通过检测； 

否则，被检测件没有通过检测。 

如上所述的一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，其中，在步骤3中通过检测之后，将测的零位数据A0和D0记录到板上的存储器件中。 

本发明的优点是使用工装将电路本身的DAC和ADC闭环联结，通过测试程序使DAC输出测试用模拟信号，对电路上ADC进行检测。ADC通过读取的模拟信号对电路上DAC进行检测。完成闭环测试。 

电路再将测得的零位信号记录到板上的存储器件中，从而在使用过程中使用此参数对DAC和ADC进行自动校准。 

测试过程不依赖于外部仪器，人工操作少，能快速准确的进行测试过程。 

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明做进一步的说明： 

一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，包括如下步骤： 

步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，读取的数据个数可以是一个也可以是多个，一般读取多个，将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0，用于校准ADC读数。 

步骤2、然后将DAC的输出与ADC的输入相连，通过程序使DAC输出零值，ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据，即得到DAC的零位数据D0，用于校准DAC的输出。 

上述两个步骤可以判断出ADC和DAC零位是否正常，如果ADC和DAC零 位数据与设定值差别过大，则进行记录，用于本发明之后，使用高精度的仪器进行进一步的检测。如果ADC和DAC零位正常，继续进行步骤3。 

步骤3、DAC输出慢变的三角波信号，信号幅度为DAC的上下极限输出值，变化幅度为最低数据位，信号长度可以是一条斜线(从最小值到最大值或者从最大值到最小值)，也可以是一个或者多个周期，ADC进行读取，通过读取的数据与输出的数据(此时的数据均通过步骤1和步骤2中得到的零位数据进行修正)进行比对，一致的话说明DAC和ADC的功能和性能正常。 

本实施例中，DAC输出数据的和ADC读取数据的频率保持一致，每个更新周期均输出不同的值，如此，能够得到三角波的图形。 

也可以DAC输出数据时，每个值均保持多个周期，这样得到的是带有台阶的三角波信号，可以进一步的了解在每个不同的值处，DAC和ADC的性能。 

进一步的，本实施例中，使用专用工装实现上述电路的连接，能够进一步加快测试速度。 

测试过程使用编写的软件程序自动完成。 

如有异常还可根据读取的数据对故障进行初步定位。用于本发明之后，使用高精度的仪器进行进一步的检测。 

虽然本发明所述的方法，对故障情况定位后，之后的检测还需要使用高精度的外部仪器进行，但是，在电路质量合格率很高的情况下，合格电路能够通过所述方法，快速的通过检测，进而直接使用。 

如此，极大的减小了人工的工作量，减小了对外部高精度仪器的依赖。 

本发明以稳定平台自动跟踪系统为例进行了说明，但是实施范围不限于此，所有设置有DAC输出电路和ADC输入电路的电路系统均可以适用。