[发明专利]笔痕特征计算机量化比对辅助分析系统有效
| 申请号： | 201110263609.4 | 申请日： | 2011-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN102324048A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 王相臣;李彪;于彬;王虹;王世全 | 申请（专利权）人： | 中国刑事警察学院 |
| 主分类号： | G06K9/68 | 分类号： | G06K9/68 |
| 代理公司： | 沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107 | 代理人： | 史旭泰 |
| 地址： | 110854 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明属于刑事科学技术中文件检验与鉴定技术领域，尤其涉及一种笔痕特征计算机量化比对辅助分析系统。本发明提供一种笔痕对比效率和准确率高的笔痕特征计算机量化比对辅助分析系统。本发明包括图像导入模块、图像处理模块、量化特征统计分析模块、测量比对模块；所述图像导入模块采用Scanline函数读取检材图像像素；所述图像处理模块对导入的检材图像进行二值化、提取轮廓、反向取色、调整亮度和对比度处理；所述量化特征统计分析模块将经图像处理后的检材图像中的笔痕的面积和周长进行统计，再将检材图像中的笔痕和样本图像中的笔痕进行轮廓重叠比对显示；所述测量比对模块比较检材和样本上笔痕特征的长度、宽度和角度，计算各项差值。 | ||
| 搜索关键词： | 特征 计算机 量化 辅助 分析 系统 | ||
【主权项】：
笔痕特征计算机量化比对辅助分析系统，其特征在于包括图像导入模块、图像处理模块、量化特征统计分析模块、测量比对模块；所述图像导入模块采用Scanline函数读取检材图像像素；所述图像处理模块对导入的检材图像进行二值化、提取轮廓、反向取色、调整亮度和对比度处理；所述量化特征统计分析模块将经图像处理后的检材图像中的笔痕的面积和周长进行统计，再将检材图像中的笔痕和样本图像中的笔痕进行轮廓重叠比对显示；所述测量比对模块比较检材和样本上笔痕特征的长度、宽度和角度，计算各项差值。
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