[发明专利]一种荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱及其制作方法

摘要

一种荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱的制作方法，属于无损检测领域，其特征是：首先收集带有不同缺陷的零部件试样，进行物理金相测试；然后对零部件试样进行荧光渗透检测；将试样的物理金相结果与荧光渗透检测结果进行对比，绘制对比图谱。有益效果是：本发明提供的荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱，能有效地模拟被检件真实缺陷显示的大小及等级；为无损检测领域中，荧光渗透检验标准的制作提供了一种新方法；该对比图谱使用方便、检测准确、可人为控制，为生产过程节约了大量人力、物力。

主权项

一种荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱的制作方法，其特征在于依次包括如下步骤：步骤一、收集带有不同缺陷的零部件试样借助物理金相的方法，通过加工、研磨、腐蚀、在显微镜下观察，采集这些零部件试样中缺陷的形貌、尺寸，并根据尺寸划分等级步骤二、对零部件试样进行荧光渗透检测；对用物理金相的方法观察过的试样，进行荧光渗透检测，收集不同缺陷真实的荧光显示状态，其中裂纹类缺陷的显示是线性的，夹杂和疏松类缺陷的显示为点状或片状；步骤三、绘制对比图谱将试样的物理金相结果与荧光渗透检测结果进行对比，模拟绘制对比图谱，使对比图谱中的检验标准与缺陷真实的荧光显示状态保持一致，对比图谱中的尺寸等级与物理金相收集的缺陷真实的尺寸进行校准步骤四、对标准图谱进行转换输出；步骤五、制成在紫外线下荧光显示的标准对比图谱。