[发明专利]一种红外探测器响应率参数的标定方法

摘要

本发明公开了一种红外探测器绝对响应率的标定方法及装置，利用黑体源和窄带滤光片组合的方法，得到了探测器在指定波长下的绝对响应率参数。本方法采用黑体源作为标定光源，确保了空间输出光斑的稳定性和均匀性，在标定测量中不需要对探测器的放置位置进行精密调节，大大提高了批量探测器的标定效率和准确性，同时通过理论计算的方法得到了辐照到探测器表面的光功率参数，克服了弱小光信号功率测量中引入的误差。本方法通过改变滤光片的波长参数和黑体温度，可适用于探测器在多种波长处的参数标定，具有广泛地适用性。

主权项

一种红外探测器响应率的绝对标定方法，其特征在于：包括以下步骤：1】黑体辐射光经窄带滤光片滤光后入射到红外探测器光敏面，红外探测器输出信号经过调理放大后输出；2】根据黑体温度、黑体辐射系数、窄带滤光片透过率曲线，计算到达红外探测器光敏面的光功率P；3】按照公式RΔλ＝U/(P·k)计算得到红外探测器在λ1～λ2下的波段绝对响应率RΔλ其中λ1为窄带滤光片的起始波长，λ2为窄带滤光片的终止波长，U为放大器输出信号，k为放大器放大倍数；4】按照公式 R i = R Δλ · R i ′ / ∫ λ 1 λ 2 R ′ ( λ ) dλ 计算得到红外探测器在测量波长λi下的绝对响应率，其中R′(λ)为红外探测器相对响应率谱线，R′i为红外探测器在测量波长λi下的相对响应率幅值；所述λi在λ1～λ2之间。