[发明专利]用于估计X射线的辐射剂量的方法及有关的X射线设备有效

专利信息
申请号: 201110222002.1 申请日: 2011-08-04
公开(公告)号: CN102385061A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: J.沃尔克;M.威尔尼茨 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01T1/02 分类号: G01T1/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明给出了用于估计由X射线源(1)产生并穿过检查对象(3)的X射线(2)的辐射剂量的一种方法以及一种有关的X射线设备。其中,X射线(2)的第一剂量值(Di)通过辐射测量腔(4)中的测量来确定(107)。接着,通过对由X射线源(1)在辐射测量腔(4)的停滞时间(ΔtVH)内产生的辐射剂量的估计,确定(108)第二辐射剂量值(ΔDE)。然后,通过将最后所确定的第一和第二剂量值(Di,ΔDE)相加,确定所估计的辐射剂量。由此,第二辐射剂量值(ΔDE)是对在辐射测量腔(4)的停滞时间(ΔtVH)内不能测量到的辐射剂量的修正值,在确定所估计的辐射剂量中应将其考虑在内。其优点在于,显著提高了对穿过检查对象的辐射剂量的估计的精度。
搜索关键词: 用于 估计 射线 辐射 剂量 方法 有关 设备
【主权项】:
一种用于估计由X射线源(1)产生并穿过检查对象(3)的X射线(2)的辐射剂量的方法,其特征在于: 通过辐射测量腔(4)中的测量,确定(107)X射线(2)的第一剂量值(Di), 通过对由X射线源(1)在所述辐射测量腔(4)的停滞时间(ΔtVH)内所产生的辐射剂量的估计,确定(108)第二剂量值(ΔDE),并且 通过将最后所确定的第一和第二剂量值(Di,ΔDE)相加,确定所估计的辐射剂量。
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