[发明专利]用于估计X射线的辐射剂量的方法及有关的X射线设备有效
| 申请号： | 201110222002.1 | 申请日： | 2011-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN102385061A | 公开（公告）日： | 2012-03-21 |
| 发明（设计）人： | J.沃尔克;M.威尔尼茨 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01T1/02 | 分类号： | G01T1/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 估计 射线 辐射 剂量 方法 有关 设备 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于估计由X射线源(1)产生并穿过检查对象(3)的X射线(2)的辐射剂量的方法，其特征在于：
-通过辐射测量腔(4)中的测量，确定(107)X射线(2)的第一剂量值(Di)，
-通过对由X射线源(1)在所述辐射测量腔(4)的停滞时间(ΔtVH)内所产生的辐射剂量的估计，确定(108)第二剂量值(ΔDE)，并且
-通过将最后所确定的第一和第二剂量值(Di，ΔDE)相加，确定所估计的辐射剂量。
2.按照权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述停滞时间(ΔtVH)内通过所述辐射测量腔(4)测量不能测量到或仅能测量到不足的辐射剂量。
3.按照上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，从所述第一剂量值(Di)随时间的变化中，确定所述第二剂量值(ΔDE)。
4.按照权利要求3所述的方法，其特征在于，从所述第一剂量值(Di)随时间的变化的斜率中，确定所述第二剂量值(ΔDE)。
5.按照权利要求4所述的方法，其特征在于，通过对第一辐射剂量值(Di)的内插，确定所述斜率。
6.一种用于实施权利要求1中所述方法的带有剂量测量腔的X射线设备。
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