[发明专利]对一种或多种材料进行测量的系统及方法有效

专利信息
申请号: 201110130889.1 申请日: 2011-05-17
公开(公告)号: CN102313692A 公开(公告)日: 2012-01-11
发明(设计)人: 韦恩·D·罗特;爱德华·A·卡尔维;查尔斯·J·柯林斯;威廉·R·戴歇尔;亚尔登·E·克拉格;亚当·R·席尔法特;罗斯·G·约翰逊;科林·D·博察尔特;维克托·塞尔瓦拉杰;埃里克·D·史密斯;尼古拉斯·F·阿拉巴;布鲁斯·J·C·伯纳德;唐纳德·A·康纳;罗贝特·S·罗奇;大卫·L·史密斯 申请(专利权)人: 卢米耐克斯公司
主分类号: G01N15/10 分类号: G01N15/10;G01N15/14
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王萍;陈炜
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供了对一种或多种材料进行测量的系统及方法。一种系统被配置为将一种或多种材料从一个或多个贮存容器转移至测量装置的成像空间。另一系统被配置为在测量装置的成像空间中对一种或多种材料成像。一种附加的系统被配置为在测量装置的成像空间中使一种或多种材料大致上固定不动。又一系统被配置为将一种或多种材料从一个或多个贮存容器转移至测量装置的成像空间、在所述成像空间中对所述一种或多种材料成像、在所述成像空间中使所述一种或多种材料或它们的某种组合大致上固定不动。
搜索关键词: 一种 多种 材料 进行 测量 系统 方法
【主权项】:
一种用于分析流体样品的系统,包括:流体流通室;磁体和用于在所述流体流通室的成像区域附近选择性地定位所述磁体的机构;照射子系统,被配置为照射所述流体流通室的所述成像区域;以及光敏检测子系统,被配置为在所述流体流通室的所述成像区域被照射时对其成像。
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