[发明专利]具有交错引线的半导体器件有效
申请号: | 201110123304.3 | 申请日: | 2011-05-13 |
公开(公告)号: | CN102779765A | 公开(公告)日: | 2012-11-14 |
发明(设计)人: | 邱书楠;白志刚;徐雪松;阎蓓悦;葛友 | 申请(专利权)人: | 飞思卡尔半导体公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/495 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 陈华成 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及具有交错引线的半导体器件。提供了一种用于装配半导体器件的方法,所述方法包括提供引线框,所述引线框具有原始平面和具有原始引线节距的多个引线。所述方法包括裁切并成型所述多个引线的第一子集以提供第一排引线。所述方法包括裁切并成型所述多个引线的第二子集以提供第二排引线。引线的至少一个子集被成型为相对于所述原始平面具有钝角,使得与引线的所述第一子集或第二子集相关联的引线节距大于所述原始引线节距。 | ||
搜索关键词: | 具有 交错 引线 半导体器件 | ||
【主权项】:
一种装配半导体器件的方法,包括:提供引线框,所述引线框包括原始平面和具有原始引线节距的多个引线;将所述多个引线的第一子集裁切并成型到第一长度,并将所述引线的第一子集成型为相对于所述原始平面具有钝角,以提供第一排引线;以及将所述多个引线的第二子集裁切并成型到第二长度,所述第二长度比所述第一长度长,并将所述引线的第二子集成型为相对于所述原始平面具有钝角,以提供第二排引线,并且其中,与所述引线的第一子集和第二子集相关联的引线节距大于所述原始引线节距。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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