[发明专利]形状计测装置以及校准方法有效

专利信息
申请号: 201110112131.5 申请日: 2011-04-26
公开(公告)号: CN102252630A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 小岛岳史;光本大辅;大西康裕;庄沱;森泰元 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 聂宁乐;向勇
地址: 日本京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种形状计测装置及校准方法的技术,能够尽可能减小计测点的位置差异所导致的法线计算误差,高精度地计算出计测对象物的三维形状。形状计测装置基于利用照相机(1)拍摄得到的图像,针对计测对象物(4)的表面上的多个关注点计算出特征量,并参照预先存储在存储装置(62)中的数据,基于特征量的值来计算出法线方向,基于其计算结果恢复计测对象物(4)的表面的三维形状。在此,存储装置(62)存储有针对设定在照相机(1)的视场内的多个基准位置的每一个基准位置制作的多个数据,根据关注点的位置来切换要参照的数据。
搜索关键词: 形状 装置 以及 校准 方法
【主权项】:
一种形状计测装置,其特征在于,具有:照明单元,其用于对配置在工作台上的计测对象物照射光,拍摄单元,其用于对上述计测对象物进行拍摄,特征量计算单元,其用于基于特定图像,对上述计测对象物的表面上的多个关注点计算出与颜色或亮度相关的特征量,上述特定图像是在上述照明单元照射光的状态下利用上述拍摄单元进行拍摄而得到的图像,存储单元,其用于预先存储将特征量的值与特定信息建立了对应关联的数据,该特定信息用于根据特征量的值来确定表面的法线的方向,形状计算单元,其用于通过参照存储在上述存储单元中的数据,基于由上述特征量计算单元计算出的特征量的值来计算上述多个关注点处的法线的方向,并基于该计算结果来计算出上述计测对象物的表面的三维形状;上述存储单元存储有针对在上述拍摄单元的视场内设定的多个基准位置中的每一个基准位置而制作的多个数据,上述形状计算单元根据关注点的位置来切换要参照的数据。
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