[发明专利]基于马赫曾德干涉仪的激光器频率噪声功率谱密度测试系统及方法有效
| 申请号： | 201110069378.3 | 申请日： | 2011-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN102183362A | 公开（公告）日： | 2011-09-14 |
| 发明（设计）人： | 张顾洪;马慧莲;金仲和 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于马赫曾德干涉仪的激光器频率噪声功率谱密度测试系统及方法。本发明通过反馈回路将激光器中心频率锁定在马赫曾德干涉仪干涉曲线的正交点，使得系统工作在良好的线性段，完成对激光器的频率噪声到光强的转换，达到了通过电子频谱仪直接测试的目的；通过声光移频器的移频使得频率观测点避开测试系统本身的1/f噪声。本发明为激光器频率噪声功率谱密度的测试，提供一种在电子频谱仪上即可观测的稳定测试方法，为激光器频率噪声对光学系统的影响分析提供了一种手段，具有重要的科学意义与应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 马赫 干涉仪 激光器 频率 噪声 功率 密度 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种基于马赫曾德干涉仪的激光器频率噪声功率谱密度测试系统，其特征在于包括待测激光器(1)、隔离器(2)、衰减器(3)、第一50%耦合器(4)、相位调制器(5)、延时光纤(6)、声光移频器(7)、第二50%耦合器(8)、第一光电探测器(9)、第二光电探测器(10)、锁相放大器(11)、伺服回路(12)、信号源(13)、电子频谱仪(14)；待测激光器（1）、隔离器（2）、衰减器（3）、第一50%耦合器（4）、相位调制器（5）、第二50%耦合器（8）、第一光电探测器（9）、锁相放大器（11）、伺服回路(12)顺次相连，伺服回路(12)与相位调制器（5）相连；第一50%耦合器（4）、延时光纤(6)、声光移频器(7) 、第二50%耦合器(8) 、第二光电探测器(10)、电子频谱仪(14)顺次相连；信号源(13)分别与声光移频器(7)、锁相放大器(11)相连。
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