[发明专利]光电测量装置有效
| 申请号： | 201110064830.7 | 申请日： | 2011-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN102192694A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 何塞·哈维尔·孙苏内吉·穆吉萨;胡安·卡洛斯·德尔加·希门尼斯 | 申请（专利权）人： | 菲高公司 |
| 主分类号： | G01B3/00 | 分类号： | G01B3/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 党晓林;王小东 |
| 地址： | 西班牙*** | 国省代码： | 西班牙;ES |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供一种光电测量装置，该装置包括：具有内部纵向凹槽的型材(1)；布置在所述型材(1)的所述纵向凹槽中、在两个端部附接至所述型材(1)的测量带(2)；沿着所述型材(1)的所述纵向凹槽移动以便观察所述测量带(2)的读头(3)；以及用于调整所述测量带(2)的长度的张力装置(4)，所述测量带(2)在一个端部通过所述张力装置(4)附接至所述型材(1)。所述装置(100)还包括适于锁定所述张力装置(4)的锁定机构(6)，并且所述锁定机构(6)和所述张力装置(4)被布置在所述读头(3)的路径之外。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种光电测量装置，该装置包括：具有内部纵向凹槽的型材(1)；布置在所述型材(1)的所述纵向凹槽中、在两个端部附接至所述型材(1)的测量带(2)；沿着所述型材(1)的所述纵向凹槽移动以便读取所述测量带(2)的读头(3)；用于调整所述测量带(2)的长度的张力装置(4)，所述测量带(2)在一个端部通过所述张力装置(4)附接至所述型材(1)；以及适于相对于所述型材(1)锁定所述张力装置(4)的锁定机构(6)，其特征在于，所述锁定机构(6)和所述张力装置(4)被布置在当从所述型材(1)除去所述读头(3)时所述读头(3)所沿的路径之外，从而不需要拆除所述张力装置(4)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于菲高公司，未经菲高公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110064830.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
