[发明专利]光电测量装置有效

专利信息
申请号: 201110064830.7 申请日: 2011-03-17
公开(公告)号: CN102192694A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 何塞·哈维尔·孙苏内吉·穆吉萨;胡安·卡洛斯·德尔加·希门尼斯 申请(专利权)人: 菲高公司
主分类号: G01B3/00 分类号: G01B3/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 党晓林;王小东
地址: 西班牙*** 国省代码: 西班牙;ES
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摘要:
搜索关键词: 光电 测量 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种光电测量装置,所述光电测量装置包括型材、布置在所述型材内的测量带以及相对于所述测量带移动的读头。

现有技术

现有技术中已知这样的光电测量装置,该光电测量装置包括具有内部纵向凹槽的型材,布置在该型材的纵向凹槽中的测量带,沿着型材的纵向凹槽移动以便观察测量带的读头,和用于在测量带安装在型材的凹槽中的期间对测量带的张力进行调整的张力装置。

在所述测量装置的使用寿命期间,通常为了清洁或维护,例如通常取决于需要去除读头的地方,需要不定期地从型材上除去读头,这通过放松测量带的张力实现,其缺点在于,必须再次调整所述测量带的张力以使得装置再一次变得可用。

文献US4534113公开了这种类型的光电测量装置。在该装置中,测量带在一个端部通过张力装置固定于型材上,并且测量带在另一端部通过布置在读头的路径下方的高度处的螺丝钉固定于型材上,从而使所述型材的所述读头能通过所述端部被去除,使得能够通过型材的两个端部中的一个端部来实现所述去除,而不必为了实现该去除而放松测量带的张力。

文献US 5511321 A公开了一种如权利要求1的前序部分所述的光电测量装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种如权利要求书所述的光电测量装置。

所述光电测量装置包括:限定纵向凹槽的型材;布置在所述型材的所述纵向凹槽中、在两个端部附接至所述型材的测量带;以及沿着所述型材的所述纵向凹槽移动以便读取所述测量带的读头。由于所述读取,通过本发明的所述装置,可以确定所述读头相对于所述测量带的相对运动。

所述装置还包括:用于调整所述测量带的长度的张力装置,优选地在所述测量带的安装期间,所述测量带在一个端部通过所述张力装置被连接至所述型材;和适于锁定所述张力装置的锁定机构,优选地一旦所述测量带包含所需的张力,就使得在本发明的所述装置的正常操作期间避免可以例如由所述装置受到的温度变化等而导致的对所述测量带的长度的不期望的调整。

所述锁定机构和所述张力装置被布置在所述读头的路径之外,从而使得能够实现通过附接于所述张力装置的所述测量带的端部将所述读头从所述型材的所述纵向凹槽迅速且容易地去除,而不需要放松所述测量带的张力或长度,这与现有技术的装置相比为本发明的所述装置提供了灵活性并且也为所述装置提供了有利的特征。

根据附图和本发明的详细描述将使本发明的这些和其他优点以及特征变得明显。

附图说明

图1示出了本发明的光电测量装置的实施方式;

图2示出无盖的图1的光电测量装置;

图3示出无盖的图1的光电测量装置的前视图;

图4示出图1的光电测量装置的张力装置;

图5示出图4的张力装置的分解图;

图6示出在图1的光电测量装置的测量带附接的图4的张力装置;

图7示出图1的光电测量装置的型材;

图8示出本发明的光电测量装置的第二实施方式;

图9示出在图8的光电测量装置的支撑件上布置的止动件。

具体实施方式

图1和图2示出了本发明的光电测量装置100的实施方式。所述装置100包括:具有内部纵向凹槽并且通过两个盖子7(图1示出单个盖子7)在两侧被封闭的型材1;布置在型材1的纵向凹槽中并且在两个端部附接至所述型材1的测量带2;沿着型材1的纵向凹槽移动以便观察测量带2的读头3;以及用于张紧测量带2的张力装置4,所述测量带2在第一端部通过所述张力装置4附接至型材1并且在第二端部通过诸如至少螺钉或等同构件等的连接机构(图中未示出)附接至所述型材1。

测量带2包括图中未示出的多个标记,并且读头3包括朝向所述测量带2发出光束的光发射器(图中未示出)和接收穿过所述测量带或在所述测量带上反射的光的光电探测器装置(图中未示出)。由于所述测量带2的标记,所述接收到的光包括由读头3的运动确定的形状,该形状被光电探测器装置捕获,所述装置100适于根据所述接收到的光确定所述读头3相对于所述测量带2的相对位置。

通常,测量带2包括比所需长度略短的长度,使得该测量带的长度随后可以借助于张力装置4而适应于操作条件和/或所需的环境。当测量带2被安装在型材1的纵向凹槽中时,根据操作条件和/或环境(例如温度),可能有用的是所述测量带2包括较长的长度(大约百分之几米的精度),并且可以通过张力装置4满足各种情况的需要。

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