[发明专利]具有p-GaN层表面粗化的GaN基LED芯片的制作方法有效
申请号: | 201110064300.2 | 申请日: | 2011-03-17 |
公开(公告)号: | CN102157640A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 李璟;王国宏;魏同波;张杨;孔庆峰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/24;H01L33/32 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种具有p-GaN层表面粗化的GaN基LED芯片的制作方法,包括:采用金属有机化学气相沉积的方法,在半导体衬底上依次生长低温GaN缓冲层、不掺杂GaN层、N-GaN层、多量子阱层和P-GaN层,形成GaN外延片;将GaN外延片放入蒸发台,在P-GaN层的表面蒸镀CsCl或氯化物;蒸镀结束后,向蒸发台腔室中充入水汽,控制相对湿度使P-GaN层表面的CsCl或氯化物吸收水分逐渐长大形成CsCl或氯化物的纳米岛;将CsCl或氯化物纳米岛作为刻蚀掩膜,对GaN外延片进行刻蚀,形成表面粗化的GaN外延片;再将GaN外延片的一侧进行刻蚀,形成台面;在GaN外延片的上表面蒸镀一层ITO薄膜;在GaN外延片的上表面制作P电极,在台面上制作N电极,完成器件制备。 | ||
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【主权项】:
一种具有p‑GaN层表面粗化的GaN基LED芯片的制作方法,包括如下步骤:步骤1:采用金属有机化学气相沉积的方法,在半导体衬底上依次生长低温GaN缓冲层、不掺杂GaN层、N‑GaN层、多量子阱层和P‑GaN层,形成GaN外延片;步骤2:将GaN外延片放入蒸发台,在P‑GaN层的表面蒸镀CsCl或氯化物;步骤3:蒸镀结束后,向蒸发台腔室中充入水汽,控制相对湿度使P‑GaN层表面的CsCl或氯化物吸收水分逐渐长大形成CsCl或氯化物的纳米岛;步骤4:将CsCl或氯化物纳米岛作为刻蚀掩膜,对GaN外延片进行刻蚀,形成表面粗化的GaN外延片;步骤5:再将GaN外延片的一侧进行刻蚀,形成台面;步骤6:在GaN外延片的上表面蒸镀一层ITO薄膜;步骤7:在GaN外延片的上表面制作P电极,在台面上制作N电极,完成器件制备。
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