[发明专利]一种钇铝氧复合氧化物高K介质薄膜晶体管的制备方法无效

专利信息
申请号: 201110056308.4 申请日: 2011-03-10
公开(公告)号: CN102683208A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 俞峥;曹鸿涛;梁凌燕;许望颖;方燕群;叶小娟 申请(专利权)人: 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/203
代理公司: 宁波诚源专利事务所有限公司 33102 代理人: 袁忠卫
地址: 315201 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种YAlO3复合氧化物高K介质薄膜晶体管的制备方法,以金属钇靶(Y)和铝靶(Al)为源材料,采用磁控溅射和快速退火技术来制备YAlO3复合氧化物高K介质作为薄膜晶体管的栅介质层材料,并且以ITO玻璃作为衬底,源、漏电极为Ti/Au双层金属膜电极,制得的薄膜晶体管可采用顶栅结构或者底栅结构;本发明的制备方法简单可控,可实现低温制备,制造成本较低;制得的薄膜晶体管性能优良,具有较小的漏电流和较大的电容,可发展成全透明薄膜晶体管,在显示器件技术领域应用前景十分广阔。
搜索关键词: 一种 钇铝氧 复合 氧化物 介质 薄膜晶体管 制备 方法
【主权项】:
一种钇铝氧复合氧化物高K介质薄膜晶体管的制备方法,其特征在于包括以下步骤:1)选择ITO玻璃作为衬底,并对衬底进行超声清洗,预留边缘一部分作为栅电极;2)采用磁控溅射镀膜设备及金属钇靶和铝靶,在衬底温度条件下在衬底上用反应溅射沉积钇铝氧YAlO3复合氧化物薄膜,然后进行退火处理,完成栅介质层的制备;3)在栅介质层上制备沟道层;4)在沟道层上制备源电极和漏电极,制得底栅结构的YAlO3复合氧化物高K介质薄膜晶体管。
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