[发明专利]修复存储芯片的方法和装置、存储芯片有效
| 申请号： | 201110023187.3 | 申请日： | 2011-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN102610280A | 公开（公告）日： | 2012-07-25 |
| 发明（设计）人： | 苏志强;舒清明 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种修复存储芯片的方法、装置和一种存储芯片，其中的方法具体包括：地址匹配步骤：通过第一接口，对正常存储单元进行地址匹配操作，所述地址匹配操作还包括针对正常存储单元所在的目标块进行擦除操作；过擦除检验步骤：通过第二接口，校验备份存储单元是否处于过擦除状态；软编程步骤：通过第二接口，对处于过擦除状态的备份存储单元进行软编程操作；修复步骤：使用备份存储单元替代与当前地址匹配操作地址对应的正常存储单元；第一配置步骤：建立第一接口打开和第二接口关闭的第一配置；第二配置步骤：建立第一接口关闭和第二接口打开的第二配置。本发明能够在保持修复的灵活性和修复能力的同时，减小备份cell的损坏几率。 | ||
| 搜索关键词： | 修复 存储 芯片 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种修复存储芯片的方法，其特征在于，包括：地址匹配步骤：通过第一接口，对正常存储单元进行地址匹配操作，所述地址匹配操作包括将当前地址匹配操作地址和记录的错误地址进行匹配的操作，若匹配成功，则执行修复步骤，否则执行第一配置步骤；所述地址匹配操作还包括针对正常存储单元所在的目标块进行擦除操作；过擦除检验步骤：在所述擦除操作成功后，通过第二接口，校验备份存储单元是否处于过擦除状态，若是，则执行软编程步骤，否则，转向修复步骤；软编程步骤：通过第二接口，对处于过擦除状态的备份存储单元进行软编程操作，并在软编程结束后转向修复步骤；修复步骤：使用备份存储单元替代与当前地址匹配操作地址对应的正常存储单元，并执行第二配置步骤；第一配置步骤：针对当前地址匹配操作地址，建立第一接口打开和第二接口关闭的第一配置；第二配置步骤：针对当前地址匹配操作地址，建立第一接口关闭和第二接口打开的第二配置。
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