[发明专利]用于在直线加速器中测量成束存在的粒子辐射的位置的方法和装置无效
| 申请号： | 201080052548.0 | 申请日： | 2010-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN102648423A | 公开（公告）日： | 2012-08-22 |
| 发明（设计）人： | S.塞特泽;M.鲁夫;L-P.施米特 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 任宇 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于在直线加速器中测量以束存在的粒子辐射(10)的位置的方法和装置，该直线加速器具有空腔结构(4)，在该空腔结构(4)中为加速粒子产生以基础频率(f0)振荡的电磁波，其中，借助至少一个布置在所述空腔结构(4)内部的测量敏感元件(16)采集由所述粒子辐射(10)通过与所述测量敏感元件(16)电磁交互作用产生的电测量信号(M)，该电测量信号与测量敏感元件(16)与粒子辐射(10)之间的距离有关。按照本发明，在不同于所述基础频率(f0)和所述空腔结构(4)高频的固有频率的、包含所述基础频率(f0)整数倍的频率范围内评估所述测量信号(M)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 直线 加速器 测量 存在 粒子 辐射 位置 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于在直线加速器中测量成束存在的粒子辐射(10)的位置的方法，该直线加速器具有空腔结构(4)，在该空腔结构(4)中为加速所述粒子产生以基础频率(f0)振荡的电磁波，其中，通过至少一个布置在所述空腔结构(4)内部的测量敏感元件(16)采集由所述粒子辐射(10)通过与所述测量敏感元件(16)电磁交互作用产生的电测量信号(M)，该电测量信号与测量敏感元件(16)与粒子辐射(10)之间的距离有关，并且其中，在与所述基础频率(f0)和所述空腔结构(4)高频的固有频率不同的、包含所述基础频率(f0)整数多倍的频率范围内评估所述测量信号(M)。
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