[发明专利]用于在直线加速器中测量成束存在的粒子辐射的位置的方法和装置

权利要求书

1.一种用于在直线加速器中测量成束存在的粒子辐射(10)的位置的方法，该直线加速器具有空腔结构(4)，在该空腔结构(4)中为加速所述粒子产生以基础频率(f₀)振荡的电磁波，其中，通过至少一个布置在所述空腔结构(4)内部的测量敏感元件(16)采集由所述粒子辐射(10)通过与所述测量敏感元件(16)电磁交互作用产生的电测量信号(M)，该电测量信号与测量敏感元件(16)与粒子辐射(10)之间的距离有关，并且其中，在与所述基础频率(f₀)和所述空腔结构(4)高频的固有频率不同的、包含所述基础频率(f₀)整数多倍的频率范围内评估所述测量信号(M)。

2.按权利要求1所述的方法，其特征在于，所述空腔结构(4)具有多个空腔(30)和至少一个布置在彼此相邻的空腔(30)之间的中间区域(32)，引起加速的电磁波在该中间区域(32)内的场强低于其在所述空腔(30)中的场强，并且其中，所述至少一个测量敏感元件布置在所述中间区域(32)内。

3.按权利要求1或2所述的方法，其特征在于，分别两个成对地彼此对置的、相对所述直线加速器的中轴线(2)对称布置的测量敏感元件(16x_1，2，16y_1,2)采集所述测量信号(Mx_1，2，My_1,2)。

4.按权利要求1,2或3所述的方法，其特征在于，使用电容式的测量敏感元件作为测量敏感元件(16)。

5.按权利要求1,2或3所述的方法，其特征在于，使用电感式的测量敏感元件作为测量敏感元件(16)。

6.一种用于在直线加速器中测量粒子辐射(10)的位置的装置，该直线加速器具有空腔结构(4)，在该空腔结构(4)中为加速所述粒子产生以基础频率(f₀)振荡的电磁波，所述装置具有至少一个能定位在所述空腔结构(4)内部的测量敏感元件(16)，用于采集由所述粒子辐射(10)通过与所述测量敏感元件(16)电磁交互作用产生的、与测量敏感元件(16)和粒子辐射(10)之间的距离有关的电测量信号(M)，以及具有评估电路(22)，用于在不同于所述基础频率(f₀)和所述空腔结构(4)高频的固有频率的、包含所述基础频率(f₀)整数多倍的频率范围内评估所述测量信号(M)。

7.按权利要求6所述的装置，其特征在于，所述测量敏感元件(16)是电容式的测量敏感元件。

8.按权利要求6所述的装置，其特征在于，所述测量敏感元件(16)是电感式的测量敏感元件。

9.一种具有按权利要求6至8之一所述的装置的直线加速器。

10.按权利要求9所述的直线加速器，其空腔结构(4)具有多个前后相继地布置的空腔(30)以及至少一个布置在相邻的空腔(30)之间的中间区域(32)，引起加速的电磁波在所述中间区域(32)中的场强低于在所述空腔(30)中的场强，并且在所述中间区域(32)中设置至少一个测量敏感元件(16)。

11.按权利要求9或10所述的直线加速器，其特征在于，设置多个测量敏感元件(16)，所述测量敏感元件(16)分别成对地彼此对置地、相对所述直线加速器的中轴线(2)对称布置。

12.按权利要求9,10或11所述的直线加速器，其特征在于，所述直线加速器具有控制单元(28)以及用于根据由所述评估电路(22)产生的一个或一些输出信号(A_x,A_y)调节所述粒子辐射(10)的位置的致偏单元(20)。