[发明专利]绝缘性不良检查装置及使用该装置的绝缘性不良检查方法、电化学电池的制造方法有效

专利信息
申请号: 201080043982.2 申请日: 2010-09-29
公开(公告)号: CN102576897A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 山下孝典;秋田裕久;秋山登;奥下正隆 申请(专利权)人: 大日本印刷株式会社
主分类号: H01M10/04 分类号: H01M10/04;H01G9/00;H01G9/08;H01G9/155;H01M2/02;H01M10/058
代理公司: 北京金信立方知识产权代理有限公司 11225 代理人: 黄威;张彬
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种能够精度良好地排除绝缘不良品,且在绝缘不良检查后,能够再次使用的电化学电池的制造方法,为此,以使金属端子(21)的前端突出于包装体(10)外部的方式对电化学电池主体(20)进行密封收纳而构成的电化学电池(1)的制造方法中,通过向金属端子(21)和金属箔层(12)之间施加冲击电压,并对被施加于金属端子(21)和金属箔层(12)之间的电容的电压的波形进行测定,而实施绝缘不良检查工序。
搜索关键词: 绝缘性 不良 检查 装置 使用 方法 电化学 电池 制造
【主权项】:
一种电化学电池的制造方法,所述电化学电池通过将电化学电池主体以金属端子的前端突出于外部的方式密封收纳于包装体的内部而构成,其中,所述包装体通过至少依次层叠金属箔层、热粘接性树脂层而构成,所述电化学电池主体包括:含有正极活性物质和正极集电体的正极、含有负极活性物质和负极集电体的负极、和被填充于所述正极和所述负极之间的电解质,所述金属端子与所述正极以及所述负极分别连结,其特征在于,包括绝缘不良检查工序,在所述绝缘不良检查工序中,向所述金属端子和所述金属箔层之间施加冲击电压,并对被施加于所述金属端子和所述金属箔层之间的电容的电压的波形进行测定。
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