[发明专利]基于单层或多层石墨烯的光探测器件有效

专利信息
申请号: 201080035978.1 申请日: 2010-08-17
公开(公告)号: CN102473844A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 夏丰年;P·阿沃利斯;T·米勒;林佑民 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L51/42 分类号: H01L51/42;H01L51/44;G02B6/122
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 酆迅
地址: 纽约*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开了一种使用栅极氧化物层(12)上的单层或多层石墨烯作为光子探测层(14)的光探测器。公开了具有源极(8)、漏极(6)和栅极(10)电极的不同配置的多个实施方式。另外,公开了包含多个光探测元件的光探测器阵列,用于诸如成像和监控等应用。在石墨烯层(14)之下的光波导可嵌入衬底(10)或栅极氧化物层(12)内,以将光子引导至石墨烯层(14)。
搜索关键词: 基于 单层 多层 石墨 探测 器件
【主权项】:
一种光探测器件,包括:a.衬底(10,34);b.栅极氧化物层(12),沉积于所述衬底上;c.石墨烯的沟道层(14,38),沉积于所述栅极氧化物层上;以及d.源极接触区和漏极接触区(6,8,30,32,60‑67),设置在所述石墨烯层上。
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