[发明专利]试样分析芯片、采用该试样分析芯片的试样分析装置和试样分析方法、以及试样分析芯片的制造方法有效
| 申请号： | 201080014320.2 | 申请日： | 2010-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN102369443A | 公开（公告）日： | 2012-03-07 |
| 发明（设计）人： | 小泽知之;西嶋奈绪;殷明 | 申请（专利权）人： | 凸版印刷株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;C12M1/00;C12Q1/68;G01N37/00 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 崔香丹;洪燕 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种将液体输送到形成于芯片上的加样孔内并进行反应的试样分析芯片，其为送液方法简单且输送到各加样孔的液量之间不存在偏差、且成本低廉的试样分析芯片。本发明的试样分析芯片，包括：多个加样孔(102)和与各加样孔连接的流路，其特征在于，所述流路具有用于向各加样孔输送液体的主流路(103)，该主流路设置在比所述加样孔更接近旋转中心侧的位置，且在相邻加样孔之间具有旋转中心方向的一个山部。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 分析 芯片 采用 装置 方法 以及 制造 | ||
【主权项】：
一种试样分析芯片，在基材上具有多个加样孔、与各加样孔连接的流路和向流路注入溶液的注入口，并通过旋转该基材，将溶液分配给各个加样孔，其特征在于，所述流路具有用于向上述各加样孔输送液体的主流路，该主流路设置在比所述加样孔更接近旋转中心侧的位置，且在相邻加样孔之间具有相对于旋转中心方向的一个山部。
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