[发明专利]具有包括EEPROM的低功率微控制器的过程分析传感器无效
| 申请号： | 201080013182.6 | 申请日： | 2010-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN102362173A | 公开（公告）日： | 2012-02-22 |
| 发明（设计）人： | 日扎德·瑞兹瓦尼;杰弗里·卢密保;卡林·乔巴努 | 申请（专利权）人： | 罗斯蒙德分析公司 |
| 主分类号： | G01N27/28 | 分类号： | G01N27/28;G01N27/416;G06F1/32;G06F15/76 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王玮 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供一种过程分析传感器(14)。所述过程分析传感器(14)包括能耦合到过程的过程分析感测单元(24)。所述过程分析感测单元(24)具有随着所述过程的分析方面而改变的电特性。将微控制器(22)置于所述过程分析传感器(14)中，且将所述微控制器(22)耦合到所述过程分析感测单元(24)，以感测所述电特性，并基于所感测到的特性来提供分析信号。能够在小至0.5毫安上操作所述微控制器(22)，且所述微控制器(22)包括能够在所述微控制器(22)在小至0.5毫安上操作时能够被写入的电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)(54)。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 包括 eeprom 功率 控制器 过程 分析 传感器 | ||
【主权项】：
一种过程分析传感器，包括：过程分析感测单元，所述过程分析感测单元能耦合到过程，并具有随着所述过程的分析方面而改变的电特性；微控制器，置于所述过程分析传感器中，所述微控制器耦合到所述过程分析感测单元，以感测所述电特性，并基于所感测到的特性来提供分析信号；其中，能够以小至0.5毫安来操作所述微控制器，且所述微控制器包括能够在所述微控制器以小至0.5毫安操作时能够被写入的电可擦除可编程只读存储器EEPROM。
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