[发明专利]信号质量测量设备及其方法有效
| 申请号： | 201080012455.5 | 申请日： | 2010-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN102356590A | 公开（公告）日： | 2012-02-15 |
| 发明（设计）人： | 朴贤洙;李坰根;黄仁吾;赵辉;辛钟玄 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H04L1/20 | 分类号： | H04L1/20 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 韩明星;王兆赓 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种信号质量测量设备包括：二进制信号产生单元，从输入信号产生二进制信号；电平信息提取单元，使用至少两个窗长度从输入信号和二进制信号之间的关系提取电平信息；质量计算单元，基于所述电平信息计算输入信号的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 信号 质量 测量 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种信号质量测量设备，包括：二进制信号产生单元，从输入信号产生二进制信号；电平信息提取单元，使用至少两个窗长度从输入信号和二进制信号之间的关系提取电平信息；质量计算单元，基于所述电平信息计算输入信号的质量。
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