[实用新型]面板缺陷测量尺

摘要

本实用新型公开了一种面板缺陷测量尺，用于有机发光显示器的面板缺陷测量，该面板缺陷测量尺的尺面上标示有有机发光显示器面板的缺陷图样，上述缺陷图样包括七种，分别用于测量切割后的基片玻璃棱角处缺陷、切割后的后盖玻璃棱角处缺陷、基片玻璃与驱动模块绑定的边沿处缺陷、基片玻璃未切割的边沿处缺陷、基片与后盖玻璃粘合时胶线压合后宽度的长度、基片和后盖玻璃的表面缺陷，以及有机发光显示器的显示屏偏光片缺陷。本实用新型直接将OLED显示器面板上的缺陷与尺面上的缺陷图样比对，若缺陷的投影边界超出缺陷图样的区域，则不可用。与现有技术相比，本实用新型实现了面板缺陷测量的专业化，操作简单，人为误差小。

主权项

一种面板缺陷测量尺，用于有机发光显示器的面板缺陷测量，其特征在于：所述面板缺陷测量尺的尺面上标示有有机发光显示器面板的缺陷图样，所述缺陷图样包括测量切割后的基片玻璃棱角处缺陷的第一缺陷图样、测量切割后的后盖玻璃棱角处缺陷的第二缺陷图样、测量基片玻璃与驱动模块绑定的边沿处缺陷的第三缺陷图样、测量基片玻璃未切割的边沿处缺陷的第四缺陷图样、测量基片与后盖玻璃粘合时胶线压合后宽度的长度图样、测量基片和后盖玻璃的表面缺陷的第五缺陷图样，以及测量有机发光显示器的显示屏偏光片缺陷的第六缺陷图样。