[实用新型]一种测量结晶器保护渣层厚度的装置有效

专利信息
申请号: 201020222563.2 申请日: 2010-06-03
公开(公告)号: CN201684905U 公开(公告)日: 2010-12-29
发明(设计)人: 吕延春;刘洋;王文军;朱志远;金茹;姜中行;麻庆申;王玉龙;石树东;刘金刚;李战军;王星;石磊 申请(专利权)人: 首钢总公司
主分类号: B22D11/18 分类号: B22D11/18
代理公司: 首钢总公司专利中心 11117 代理人: 史桂芬
地址: 100041 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型涉及一种测量结晶器保护渣层厚度的装置。适用于结晶器保护渣厚度的测量,该装置包括提手、固定架、测量用金属片,其特征在于:在固定架(2)上固定三个不同的金属片(5、6、7),金属片(5、6、7)的长度略短于结晶器的长度,金属片(5、6、7、)之间的距离为1~10mm,金属片(5、6、7)的熔点分别为:640℃~680℃、1040℃~1100℃、1500℃~1540℃。本实用新型能够沿结晶器长度或宽度方向测量出粉渣层、烧结层、液渣层的厚度。数据准确直观的反映了沿结晶器的渣层厚度分布情况,为控制保护渣各渣层厚度提供了重要依据。
搜索关键词: 一种 测量 结晶器 保护 厚度 装置
【主权项】:
一种测量结晶器保护渣层厚度的装置,包括:提手、固定架、测量用金属片,其特征在于:在固定架(2)上固定三个不同的金属片(5、6、7),金属片(5、6、7)的长度略短于结晶器的长度,金属片(5、6、7)之间的距离为1~10mm,金属片(5、6、7)的熔点分别为:640℃~680℃、1040℃~1100℃、1500℃~1540℃。
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