[实用新型]一种测量结晶器保护渣层厚度的装置有效
| 申请号： | 201020222563.2 | 申请日： | 2010-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN201684905U | 公开（公告）日： | 2010-12-29 |
| 发明（设计）人： | 吕延春;刘洋;王文军;朱志远;金茹;姜中行;麻庆申;王玉龙;石树东;刘金刚;李战军;王星;石磊 | 申请（专利权）人： | 首钢总公司 |
| 主分类号： | B22D11/18 | 分类号： | B22D11/18 |
| 代理公司： | 首钢总公司专利中心 11117 | 代理人： | 史桂芬 |
| 地址： | 100041 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测量 结晶器 保护 厚度 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种测量结晶器保护渣层厚度的装置，包括：提手、固定架、测量用金属片，其特征在于：在固定架(2)上固定三个不同的金属片(5、6、7)，金属片(5、6、7)的长度略短于结晶器的长度，金属片(5、6、7)之间的距离为1～10mm，金属片(5、6、7)的熔点分别为：640℃～680℃、1040℃～1100℃、1500℃～1540℃。
2.如权利要求1所述的一种测量结晶器保护渣层厚度的装置，其特征在于：所述金属片(5、6、7)厚度为0.5mm～5mm，金属片(5、6、7)宽度为5cm～30cm。
3.如权利要求1所述的一种测量结晶器保护渣层厚度的装置，其特征在于：金属片(5、6、7)分别为Al片、Cu片、Fe片。
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