[实用新型]一种片状材料厚度测量装置有效
| 申请号： | 201020177127.8 | 申请日： | 2010-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN201653324U | 公开（公告）日： | 2010-11-24 |
| 发明（设计）人： | 惠峰;赵有文;朱蓉辉;高永亮 | 申请（专利权）人： | 云南中科鑫圆晶体材料有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 650031 云南*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种片状材料厚度测量装置，包括：一测量底座；一第一固定立柱和一第二固定立柱，该第一固定立柱和第二固定立柱分别固定于测量底座上面的两侧；一测量顶杆，该测量顶杆固定在第一固定立柱的中部，该测量顶杆与第一固定立柱相互垂直；一测量表头，该测量表头安装在第二固定立柱的中部，该测量表头的测量端与第一测量顶杆相对，该测量表头与第二固定立柱相互垂直；一测量头，该测量头固定在第一测量顶杆的端部，该测量头与测量表头的测量端相对。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 片状 材料 厚度 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种片状材料厚度测量装置，其特征在于，包括：一测量底座；一第一固定立柱和一第二固定立柱，该第一固定立柱和第二固定立柱分别固定于测量底座上面的两侧；一测量顶杆，该测量顶杆固定在第一固定立柱的中部，该测量顶杆与第一固定立柱相互垂直；一测量表头，该测量表头安装在第二固定立柱的中部，该测量表头的测量端与测量顶杆相对，该测量表头与第二固定立柱相互垂直；一测量头，该测量头固定在第一测量顶杆的端部，该测量头与测量表头的测量端相对。
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