[发明专利]星上定标光源LED的筛选方法无效

专利信息
申请号: 201010613571.4 申请日: 2010-12-30
公开(公告)号: CN102175958A 公开(公告)日: 2011-09-07
发明(设计)人: 李宪圣;任建伟;张立国;任建岳;万志;刘则洵;李葆勇 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R31/01;G01M11/02
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 陶尊新
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 星上定标光源LED的筛选方法,涉及空间光学领域,解决目前没有对工业级LED进行升级筛选测试方法的问题,本发明方法将LED作为空间相机的定标光源,首先考核LED空间环境承受能力,主要包括总剂量辐照试验,热真空环境试验;其次是LED的升级筛选试验,在符合应用的同批次LED中挑选最适合的作为最终应用的定标光源,所有的试验都经过电性能检测和光性能检测为LED作为定标光源应用到空间相机提供筛选依据。本发明作为考核LED用作空间相机星上定标光源的筛选依据广泛应用于空间光学领域。
搜索关键词: 定标 光源 led 筛选 方法
【主权项】:
星上定标光源LED的筛选方法,该方法包括对LED的环境考核方法和对LED的升级筛选方法;所述对LED的环境考核方法包括LED的总剂量辐照实验方法和热真空环境实验方法;其特征是:所述对LED升级筛选方法由以下步骤实现:步骤一、对通过LED总剂量辐照实验方法和LED的热真空环境实验方法检验合格的批次LED进行外观检测,获得合格的LED;步骤二、对步骤一获得合格的LED在常温下进行电性能检测和光性能检测;获得检测合格的LED;步骤三、对步骤二检测合格的LED进行高温贮存检测;然后对检测合格的进行温度冲击检测,最后对LED在常温下进行电性能检测和光性能检测,获得合格的LED;步骤四、对步骤三获得的合格的LED进行电老练检测,检测合格的进行筛后检测;判断LED是否满足PDA<5%,如果是,则执行步骤五,如果否,则执行步骤六;所述筛后检测为对LED在常温下进行电性能检测和光性能检测;步骤五、对LED进行筛选后的外观检测;获得检测合格的LED;步骤六、更换LED的批次;步骤七、筛选完成。
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