[发明专利]星上定标光源LED的筛选方法无效
| 申请号: | 201010613571.4 | 申请日: | 2010-12-30 |
| 公开(公告)号: | CN102175958A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
| 发明(设计)人: | 李宪圣;任建伟;张立国;任建岳;万志;刘则洵;李葆勇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R31/01;G01M11/02 |
| 代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 陶尊新 |
| 地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 定标 光源 led 筛选 方法 | ||
1.星上定标光源LED的筛选方法,该方法包括对LED的环境考核方法和对LED的升级筛选方法;所述对LED的环境考核方法包括LED的总剂量辐照实验方法和热真空环境实验方法;其特征是:所述对LED升级筛选方法由以下步骤实现:
步骤一、对通过LED总剂量辐照实验方法和LED的热真空环境实验方法检验合格的批次LED进行外观检测,获得合格的LED;
步骤二、对步骤一获得合格的LED在常温下进行电性能检测和光性能检测;获得检测合格的LED;
步骤三、对步骤二检测合格的LED进行高温贮存检测;然后对检测合格的进行温度冲击检测,最后对LED在常温下进行电性能检测和光性能检测,获得合格的LED;
步骤四、对步骤三获得的合格的LED进行电老练检测,检测合格的进行筛后检测;判断LED是否满足PDA<5%,如果是,则执行步骤五,如果否,则执行步骤六;所述筛后检测为对LED在常温下进行电性能检测和光性能检测;
步骤五、对LED进行筛选后的外观检测;获得检测合格的LED;
步骤六、更换LED的批次;
步骤七、筛选完成。
2.根据权利要求1所述的星上定标光源LED的筛选方法,其特征在于,它还包括步骤八:统计批次LED中每一步骤的不合格的LED数量,将不合格的LED数量与最终该批次中合格的LED数量累计,判断是否满足PDA<10%,如果是,则执行步骤七,如果否,则执行步骤六。
3.根据权利要求1所述的星上定标光源LED的筛选方法,其特征在于,步骤一和步骤五中对LED进行外观检测具体指:采用MIL-STD-750中方法2068进行检验并编号。
4.根据权利要求1所述的星上定标光源LED的筛选方法,其特征在于,步骤二、步骤三和步骤四所述的对LED在常温下进行电性能检测和光性能检测,其检测标准在LED数据手册规定的范围内合格。
5.根据权利要求4所述的星上定标光源LED的筛选方法,其特征在于,所述电性能检测具体包括对LED的正向电压和反向电流的检测;光性能检测具体包括对LED进行光谱测试、辐射功率测试和角度分布测试。
6.根据权利要求1所述的星上定标光源LED的筛选方法,其特征在于,步骤三所述的高温贮存检测为:将LED在最高温度下存储96h;温度冲击检测为:将LED在最低贮存温度至最高贮存温度循环20次,每次停留30min,所述在最低贮存温度至最高贮存温度之间的转换时间在1min之内。
7.根据权利要求6所述的星上定标光源LED的筛选方法,其特征在于,所述最低贮存温度与最高贮存温度的温度标准在LED数据手册规定的范围内合格。
8.根据权利要求1所述的星上定标光源LED的筛选方法,其特征在于,步骤四所述的电老练检测具体为:在常温下,将LED在最大工作电流下工作240h的检测,所述最大工作电流以LED数据手册中规定的最大工作电流为标准。
9.根据权利要求1所述的星上定标光源LED的筛选方法,其特征在于,LED的总剂量辐照实验方法和热真空环境实验方法具体的测试内容为电性能和光性能的测试,测试数据在LED数据手册规定的范围内合格。
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