[发明专利]星上定标光源LED的筛选方法

说明书

技术领域

本发明涉及空间光学领域，具体涉及一种空间相机星上定标光源发光二极管LED的筛选方法。

背景技术

空间相机在空间环境下受各种因素的影响，其辐射响应随时间会发生变化，据有关资料空间相机在轨运行1年其辐射响应会下降20％左右，因而对空间相机在轨运行期间实施星上定标是十分必要的。目前多数空间相机采用太阳、月亮以及地面辐射校正场等对其实施在轨辐射定标。随着科技的发展，发光二极管LED的功能越来越完善，尤其是体积小、寿命长、发光稳定等优点，使其作为星上定标光源成为可能。但是目前适合做定标光源LED还没有宇航级的产品。因此在使用前需要对工业级的LED进行环境考核试验和升级筛选试验。LED既具有二极管的电性能还有发光的光性能。目前还没有关于LED筛选测试方法。

发明内容

本发明的目的为解决目前没有对工业级LED进行升级筛选测试方法的问题，提出一种星上定标光源LED的筛选方法。

星上定标光源LED的筛选方法，包括对LED的环境考核方法和对LED的升级筛选方法；所述对LED的环境考核方法包括LED的总剂量辐照实验方法和热真空环境实验方法；所述对LED升级筛选方法由以下步骤实现：

步骤一、对通过LED总剂量辐照实验方法和LED的热真空环境实验方法检验合格的批次LED进行外观检测，获得合格的LED；

步骤二、对步骤一获得合格的LED在常温下进行电性能检测和光性能检测；获得检测合格的LED；

步骤三、对步骤二检测合格的LED进行高温贮存检测；然后对检测合格的进行温度冲击检测，最后对LED在常温下进行电性能检测和光性能检测，获得合格的LED；

步骤四、对步骤三获得的合格的LED进行电老练检测，检测合格的进行筛后检测；判断LED是否满足PDA＜5％，如果是，则执行步骤五，如果否，则执行步骤六；所述筛后检测为对LED在常温下进行电性能检测和光性能检测；

步骤五、对LED进行筛选后的外观检测；获得检测合格的LED；

步骤六、更换LED的批次或型号；

步骤七、筛选完成。

本发明的工作原理：本发明针对目前国内没有LED筛选的方法的问题，提出发光二极管LED筛选试验方法，LED作为空间相机的定标光源，首先考核LED空间环境承受能力，主要包括总剂量辐照试验，热真空环境试验；其次是LED的升级筛选试验，在符合应用的同批次LED中挑选最适合的作为最终应用的定标光源，所有的试验都经过电性能检测(包括正向电压和反向电流)和光性能检测(光谱测试和辐射功率测试及角度分布测试等)。为LED作为定标光源应用到空间相机提供筛选依据。

本发明的有益效果：本发明针对LED被用作空间相机星上定标光源，提出适合的环境考核试验方法和升级筛选试验的测试方法，作为考核LED用作空间相机星上定标光源的筛选依据。

附图说明

图1为本发明所述的星上定标光源LED的筛选方法中对LED环境考核试验的流程图；

图2为本发明所述的星上定标光源LED的筛选方法中LED升级筛选检测的流程图。

具体实施方式

具体实施方式一、结合图1和图2说明本实施方式，星上定标光源LED的筛选方法，该方法包括对LED的环境考核方法和对LED的升级筛选方法；所述对LED的环境考核方法包括LED的总剂量辐照实验方法和热真空环境实验方法；所述对LED升级筛选方法由以下步骤实现：

步骤一、对通过LED总剂量辐照实验方法和LED的热真空环境实验方法检验合格的批次LED进行外观检测，获得合格的LED；

步骤二、对步骤一获得合格的LED在常温下进行电性能检测和光性能检测；获得检测合格的LED；

步骤三、对步骤二检测合格的LED进行高温贮存检测；然后对检测合格的进行温度冲击检测，最后对LED在常温下进行电性能检测和光性能检测，获得合格的LED；

步骤四、对步骤三获得的合格的LED进行电老练检测，检测合格的进行筛后检测；判断LED是否满足PDA＜5％，如果是，则执行步骤五，如果否，则执行步骤六；所述筛后检测为对LED在常温下进行电性能检测和光性能检测；

步骤五、对LED进行筛选后的外观检测；获得检测合格的LED；

步骤六、更换LED的批次或型号；

步骤七、筛选完成。