[发明专利]一种提高光纤陀螺仪角位移测量精度的方法

摘要

本发明公开了一种提高光纤陀螺仪测量角位移精度的方法，包括以下步骤：1)将光纤陀螺仪固定在高精度转台上，使得光纤陀螺仪的测量轴和高精度转台的转动轴平行。2)在不同的转台输入角速率下标定光纤陀螺仪的标度因数，获得角速率跟标度因数的对应关系表。3)将光纤陀螺仪从高精度转台上取下并固定在被测旋转装置上，使得光纤陀螺的测量轴和被测旋转装置的转动轴平行。4)在被测旋转装置静止条件下求测试时间内光纤陀螺仪输出值的平均值，5)旋转被测旋转装置，连续记录光纤陀螺仪的各输出值。6)利用步骤2)所述的对应关系表、步骤4所述的输出平均值、步骤5)所述的各输出值，解算出旋转装置的旋转角度，即角位移。

主权项

一种提高光纤陀螺仪角位移测量精度的方法，其特征在于包括如下步骤：1)将光纤陀螺仪(2)固定在高精度转台(1)上，使得光纤陀螺仪(2)的测量轴和高精度转台(1)的转动轴(5)平行。2)使高精度转台(1)分别以不同的角速率值进行旋转且对光纤陀螺仪(2)进行标度因数的标定，并记录各角速率值下光纤陀螺仪(2)的标度因数的标定值，建立角速率值与光纤陀螺仪(2)的标度因数的标定值之间的对应关系表；3)将光纤陀螺仪(2)从高精度转台(1)上取下，再将光纤陀螺仪(2)固定在被测旋转装置(6)上，使光纤陀螺仪(2)的测量轴与被测旋转装置(6)的转动轴(7)平行；4)在被测旋转装置(6)处于静止状态下，运算处理单元(4)接收光纤陀螺仪(2)的输出值并计算测试时间内的输出值的平均值；5)使被测旋转装置(6)旋转一个角度，在该旋转过程中由运算处理单元(4)连续记录光纤陀螺仪(2)的各输出值；6)根据步骤5)所述的光纤陀螺仪(2)的各输出值，利用公式(1)，相应得到被测旋转装置(6)在旋转过程中的各参考角速率，ΩiREF＝(fi‑f0)/KREF                    (1)式(1)中，ΩiREF为步骤5)所述的被测旋转装置(2)在第i次记录时的参考角速率，fi为步骤5)所述光纤陀螺仪(2)的各输出值，f0为步骤4)所述输出值的平均值，KREF为设定的光纤陀螺仪参考标度因数。7)根据步骤6)得到的各参考角速率，从步骤2)所述对应关系表中查找得到步骤5)所述光纤陀螺仪的各输出值所分别对应的光纤陀螺仪(2)的标度因数；8)根据步骤7)所得到的光纤陀螺仪(2)的各标度因数、步骤4)所述输出值的平均值、步骤5)所述光纤陀螺仪的各输出值，利用公式(1)和(2)得到被测旋转装置(6)因旋转得到的角位移：Ωi＝(fi‑f0)/KΩi                 (3)θ＝∫Ωidt                       (4)式(1)和式(2)中，fi为步骤5)所述光纤陀螺仪(2)的输出值，f0为步骤4)所述输出值的平均值，KΩi为步骤7)所得到的与fi对应的光纤陀螺仪(2)的标度因数；Ωi为步骤5)中被测旋转装置(6)在旋转过程中与fi对应的角速率，θ为步骤5)中被测旋转装置(6)在旋转过程中所发生的角位移。