[发明专利]溅射靶材有效
申请号: | 201010584455.4 | 申请日: | 2010-12-07 |
公开(公告)号: | CN102102182A | 公开(公告)日: | 2011-06-22 |
发明(设计)人: | 辰巳宪之;井坂功一;本谷胜利;小田仓正美;外木达也 | 申请(专利权)人: | 日立电线株式会社 |
主分类号: | C23C14/34 | 分类号: | C23C14/34;C22C9/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶;李昆岐 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种溅射靶材,其在通过溅射法形成配线膜的过程中,一边抑制由溅射导致的异常放电,一边可实现高速成膜。溅射靶材由在4N(99.99%)以上的无氧铜中添加了银的铜合金形成。微量添加银,使得所形成膜的电阻率与无氧铜的电阻率等同。银的添加量优选为200~2000ppm的范围。 | ||
搜索关键词: | 溅射 | ||
【主权项】:
一种溅射靶材,其特征在于,在4N(99.99%)以上的无氧铜中添加了200~2000ppm的银。
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