[发明专利]超滤膜泡点测定仪及超滤膜平均孔径测定方法有效

专利信息
申请号: 201010579477.1 申请日: 2010-12-08
公开(公告)号: CN102087103A 公开(公告)日: 2011-06-08
发明(设计)人: 楼福乐;梁国明;徐继平;刘光全 申请(专利权)人: 上海斯纳普膜分离科技有限公司
主分类号: G01B13/08 分类号: G01B13/08;G01N15/08
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 薛琦;朱水平
地址: 200942 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种超滤膜泡点测定仪以及一种超滤膜平均孔径测定方法,该超滤膜泡点测定仪包括一平均孔径泡点压力测定模块,用于探测超滤膜上通气微孔的气流量,一旦该气流量达到一判定标准时便判定该超滤膜泡点测定仪的气室中的当前气压为平均孔径泡点压力,该判定标准为:该气流量为8ml/min~10ml/min。本发明能够快速准确地测定孔径相对较大的超滤膜的平均孔径。
搜索关键词: 超滤膜 测定 平均 孔径 方法
【主权项】:
一种超滤膜泡点测定仪,其包括一平均孔径泡点压力测定模块,用于探测超滤膜上通气微孔的气流量,一旦该气流量达到一判定标准时便判定该超滤膜泡点测定仪的气室中的当前气压为平均孔径泡点压力,其特征在于,该判定标准为:该气流量为8ml/min~10ml/min。
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