[发明专利]形成用于接触插塞的金属硅化物的方法无效
申请号: | 201010524653.1 | 申请日: | 2010-10-26 |
公开(公告)号: | CN102456559A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
发明(设计)人: | 陈意维;赖国智;何念葶;黄建中 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/283 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种形成用于接触插塞的金属硅化物的方法。首先,提供一基材。其次,在基材上形成一栅极结构,此栅极结构包含一硅层、一栅极介电层与至少一间隙壁。然后,形成一组源极与漏极,其位于基材中并邻近栅极结构。继续,形成一层间介电层,其覆盖栅极结构、源极与漏极。再来,选择性移除层间介电层,以暴露栅极结构。之后,在层间介电层中形成多个接触洞,以暴露部分的基材。接着,将暴露的基材反应形成金属硅化物。 | ||
搜索关键词: | 形成 用于 接触 金属硅 方法 | ||
【主权项】:
一种形成用于接触插塞的金属硅化物的方法,包含:提供一基材;在该基材上形成一栅极结构,该栅极结构包含一硅层、一栅极介电层与至少一间隙壁;形成一组源极与漏极,其位于该基材中并邻近该栅极结构;形成一层间介电层,其覆盖该栅极结构、该源极与该漏极;选择性移除该层间介电层,以暴露该栅极结构:在该层间介电层中形成多个接触洞,以暴露部分基材;以及将接触洞暴露出的该部分基材反应成该金属硅化物。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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