[发明专利]一种先进封装材料用填料的选择方法无效

专利信息
申请号: 201010518731.7 申请日: 2010-10-25
公开(公告)号: CN102020783A 公开(公告)日: 2011-04-20
发明(设计)人: 袁良杰;艾常春;肖勇;冯锦华;文雯 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: C08K3/36 分类号: C08K3/36;C08L63/00;H01L21/56;H01L23/29
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 张火春
地址: 430072*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种封装材料用填料球形二氧化硅的选择方法。该方法在控制最大粒径和最小粒径的前提下,选用不同单组份球形二氧化硅填料,测试并计算其实际比表面积与理论比表面积,再计算实际比表面积与理论比表面积之比,选择2.0~3.0比值的组分作为环氧树脂体系先进封装材料的填料。使用该方法时,不需要加入其他规格的填料进行级配,环氧树脂复合材料就能体现出优越的性质。本发明大大简化了先进封装材料的制备过程,可有效地提高先进封装材料的可靠性。
搜索关键词: 一种 先进 封装 材料 填料 选择 方法
【主权项】:
一种封装材料用填料的选择方法,其特征在于:在控制球形二氧化硅的最大粒径不超过45微米,最小粒径不低于0.3微米的前提下,选择粒径呈正态分布的各种球形二氧化硅,计算其比表面积并测定其实际比表面积,并计算测试值与计算值的比值,选择比值为2.0 ~ 3.0的球形二氧化硅作为封装材料用填料,所述比表面积的计算值为2.73/d ,其中d为平均粒径D50值,所述实际比表面积的测定采取BET液氮吸附法。
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