[发明专利]光学位置检测装置及带位置检测功能的显示装置有效
| 申请号: | 201010518642.2 | 申请日: | 2010-10-20 |
| 公开(公告)号: | CN102053763A | 公开(公告)日: | 2011-05-11 |
| 发明(设计)人: | 中西大介 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明提供一种光学位置检测装置以及带位置检测功能的显示装置,即使不在检测区域的周围配置多个光源、光检测器,也能光学地检测出目标物体的位置。在带位置检测功能的显示装置(100)所用的光学位置检测装置(10)中,向检测区域(10R)出射由红外光组成的位置检测光L2,通过光检测器(30)检测被检测区域(10R)中的目标物体Ob反射的位置检测光L3。此时,基于光检测器(30)对第一位置检测光L2a的光接收强度与对第二位置检测光L2b的光接收强度的比较结果以及光检测器(30)对第二位置检测光L2b的光接收强度与对第三位置检测光L2c的光接收强度的比较结果,检测出目标物体Ob的2维坐标。 | ||
| 搜索关键词: | 光学 位置 检测 装置 功能 显示装置 | ||
【主权项】:
一种光学位置检测装置,用于检测检测区域内的目标物体的位置,其特征在于包括:第一光源,向所述检测区域出射第一位置检测光,并在所述检测区域中形成所述第一位置检测光的第一强度分布;第二光源,向所述检测区域出射第二位置检测光,并在所述检测区域中形成第二强度分布,所述第二强度分布在偏离所述第一强度分布的最大强度部分的位置具有最大强度部分;第三光源,向所述检测区域出射第三位置检测光,并在所述检测区域中形成第三强度分布,所述第三强度分布在偏离连接所述第一强度分布的最大强度部分与所述第二强度分布的最大强度部分的虚拟直线上的位置具有最大强度部分;光检测器,检测所述检测区域内由所述目标物体反射的所述第一位置检测光、所述第二位置检测光及所述第三位置检测光;以及位置检测部,根据所述光检测器获得的所述第一位置检测光的光接收强度与所述第二位置检测光的光接收强度的比较结果、以及所述光检测器获得的所述第二位置检测光的光接收强度与所述第三位置检测光的光接收强度的比较结果,检测设定在所述检测区域内的检测面内的所述目标物体的二维坐标。
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