[发明专利]光学位置检测装置及带位置检测功能的显示装置有效

专利信息
申请号: 201010518642.2 申请日: 2010-10-20
公开(公告)号: CN102053763A 公开(公告)日: 2011-05-11
发明(设计)人: 中西大介 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 位置 检测 装置 功能 显示装置
【权利要求书】:

1.一种光学位置检测装置,用于检测检测区域内的目标物体的位置,其特征在于包括:

第一光源,向所述检测区域出射第一位置检测光,并在所述检测区域中形成所述第一位置检测光的第一强度分布;

第二光源,向所述检测区域出射第二位置检测光,并在所述检测区域中形成第二强度分布,所述第二强度分布在偏离所述第一强度分布的最大强度部分的位置具有最大强度部分;

第三光源,向所述检测区域出射第三位置检测光,并在所述检测区域中形成第三强度分布,所述第三强度分布在偏离连接所述第一强度分布的最大强度部分与所述第二强度分布的最大强度部分的虚拟直线上的位置具有最大强度部分;

光检测器,检测所述检测区域内由所述目标物体反射的所述第一位置检测光、所述第二位置检测光及所述第三位置检测光;以及

位置检测部,根据所述光检测器获得的所述第一位置检测光的光接收强度与所述第二位置检测光的光接收强度的比较结果、以及所述光检测器获得的所述第二位置检测光的光接收强度与所述第三位置检测光的光接收强度的比较结果,检测设定在所述检测区域内的检测面内的所述目标物体的二维坐标。

2.根据权利要求1所述的光学位置检测装置,其特征在于,

在所述第一强度分布、所述第二强度分布及所述第三强度分布中,随着与最大强度部分距离的增加,强度单调减少。

3.根据权利要求1或2所述的光学位置检测装置,其特征在于,

所述第一光源和所述第二光源和所述第三光源在不同的定时下出射所述第一位置检测光、所述第二位置检测光及所述第三位置检测光。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的光学位置检测装置,其特征在于,

所述第一位置检测光和第二位置检测光和第三位置检测光由红外光组成。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的光学位置检测装置,其特征在于,

所述第一光源、所述第二光源及所述第三光源将所述第一位置检测光和第二位置检测光和第三位置检测光作为发散光出射。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的光学位置检测装置,其特征在于,

所述第一光源、所述第二光源及所述第三光源被配置成光轴朝向所述检测区域。

7.根据权利要求1至5中任一项所述的光学位置检测装置,其特征在于,还包括:

光出射面朝向所述检测区域的导光板,

所述第一位置检测光、所述第二位置检测光及所述第三位置检测光通过该导光板出射至所述检测区域。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的光学位置检测装置,其特征在于,包括:

第四光源,与所述第一位置检测光、所述第二位置检测光及所述第三位置检测光一起出射第四位置检测光,所述第四位置检测光形成强度在与所述检测面正交的方向上变化的强度分布。

9.一种带位置检测功能的显示装置,其特征在于,

具有权利要求1至8中任一项所述的光学位置检测装置,且具有在与所述检测区域重叠的区域形成图像的图像生成装置。

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