[发明专利]反射面天线时延测定方法无效
| 申请号： | 201010508720.0 | 申请日： | 2010-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN102055536A | 公开（公告）日： | 2011-05-11 |
| 发明（设计）人： | 秦顺友;杜彪;李振生;李勇;王小强;王海;陈辉;张文静;张志华;王聚亮 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 050081 河北省石家庄*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了反射面天线时延测定方法，反射面天线时延由馈线时延、馈源网络时延和天线等光程时延组成。本发明提出了利用矢量网络分析仪测量和计算相结合方法确定反射面天线时延，即用矢量网络分析仪测量出馈线时延和馈源网络延延，再计算出等光程时延，三者相加即获得天线时延的大小。本发明的方法简单可行，不仅适用于反射面天线时延测量，而且可实现时延随温度变化特性测量。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 天线 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种反射面天线时延测定方法，其特征在于：所述的反射面天线时延由天线馈线时延、馈源网络时延和等光程时延组成，用下式表示为：τant＝τkx+τwl+τgc式中：τant‑天线的时延；τkx‑馈线时延；τwl‑馈源网络时延；τgc‑等光程时延。
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