[发明专利]反射面天线时延测定方法

权利要求书

1.一种反射面天线时延测定方法，其特征在于：所述的反射面天线时延由天线馈线时延、馈源网络时延和等光程时延组成，用下式表示为：

τ_ant＝τ_kx+τ_wl+τ_gc

式中：τ_ant-天线的时延；

τ_kx-馈线时延；

τ_wl-馈源网络时延；

τ_gc-等光程时延。

2.根据权利要求1所述的反射面天线时延测定方法，其特征在于：所述天线馈线时延的测定方法是通过矢量网络分析仪来实现的，首先在不接待测馈线的情况下，将测试电缆直通，矢量网络分析仪的射频输出直接接其射频输入，进行直通定标校准，从而设置矢量网络分析仪初始状态参数；然后，接上待测馈线，则矢量网络分析仪可直接测量出待测馈线时延的大小。

3.根据权利要求1或2所述的反射面天线时延测定方法，其特征在于：所述馈源网络时延的测定方法是通过矢量网络分析仪来实现的，首先将标准喇叭的测试电缆与馈源网络的测试电缆直通连接，对矢量网络分析仪进行直通定标测量，并测定出标准喇叭的时延初值；然后，用矢量网络分析仪测量馈源网络和标准喇叭组成的整个回路的时延大小，扣除标准喇叭时延初值和标准喇叭至馈源喇叭相位中心之间距离的自由空间的传播时延，即得馈源网络的时延。

4.根据权利要求3所述的反射面天线时延测定方法，其特征在于：所述等光程时延为等光程距离与光速之比，其中等光程距离为馈源喇叭相位中心至副反射面再到主反射面的距离，由下式表示：

d=Ds2sinθm+D-Ds2sinθvm]]>

式中：d-等光程；

D-抛物面天线主面口径；

D_s-抛物面天线副面口径；

θ_m-馈源相心对副面的半张角；

θ_vm-副反射面边缘对主面的半张角；

由计算的等光程距离d，利用下式计算等光程时延：

τgc=dc]]>

式中：c为光速。