[发明专利]纳米复合相变材料及其在相变存储器中的用途无效
申请号: | 201010507542.X | 申请日: | 2010-10-14 |
公开(公告)号: | CN102082228A | 公开(公告)日: | 2011-06-01 |
发明(设计)人: | 吕业刚;宋三年;宋志棠 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00;C23C14/34;B82Y10/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种纳米复合相变材料及其制备方法、以及在相变存储器中的应用。其中,所述纳米复合相变材料包含:重量百分比为2-30%的介质材料TiO2和重量百分比为70-98%的相变材料Ge2Te3,由于Ge2Te3相变材料与TiO2在纳米尺度的均匀复合,相变材料分布在由介质材料TiO2形成的纳米框架结构中,一方面抑制了相变材料的结晶,提升了材料的晶化温度;另一方面相变材料的挥发得到了有效的抑制,组分偏析情况得到明显改善,增加了材料的稳定性。这种新型纳米复合相变薄膜应用到存储器中,可使相变存储器件的RESET电压降低,有利于实现高密度存储,提高相变存储器的编程过程中的加热效率,降低其功耗,提升数据保持能力、疲劳特性和抗辐照能力等。 | ||
搜索关键词: | 纳米 复合 相变 材料 及其 存储器 中的 用途 | ||
【主权项】:
一种纳米复合相变材料,其特征在于包括:重量百分比为2‑30%的介质材料TiO2、以及重量百分比为70‑98%的相变材料Ge2Te3。
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