[发明专利]双面扫描装置及其检测方法无效

专利信息
申请号: 201010294373.6 申请日: 2010-09-28
公开(公告)号: CN102420929A 公开(公告)日: 2012-04-18
发明(设计)人: 王春涛;许春凯;许加波;王玉国 申请(专利权)人: 山东新北洋信息技术股份有限公司
主分类号: H04N1/04 分类号: H04N1/04;H04N1/028;H04N1/047
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明
地址: 264209 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种双面扫描装置及其检测方法。该双面扫描装置包括:第一图像传感器,该第一图像传感器包括:第一发光器,用于发射光;第一基白区域;第一感光器阵列,第二图像传感器,该第二图像传感器包括:第二发光器,与第一基白区域相对设置,用于发射光;第二基白区域,与第一发光器相对设置;第二感光器阵列,第一存储器,用于存储基准数据;控制器,用于接收来自第一感光器阵列和/或第二感光器阵列的测试数据,并将测试数据和基准数据进行比较以对第一图像传感器和/或第二图像传感器进行检测。通过本发明,能够实现方便地对双面扫描装置进行检测。
搜索关键词: 双面 扫描 装置 及其 检测 方法
【主权项】:
一种双面扫描装置,其特征在于,包括:第一图像传感器,包括:第一发光器,用于发射光;第一基白区域;第一感光器阵列,第二图像传感器,包括:第二发光器,与所述第一基白区域相对设置,用于发射光;第二基白区域,与所述第一发光器相对设置;第二感光器阵列,第一存储器,用于存储基准数据;控制器,用于接收来自所述第一感光器阵列和/或所述第二感光器阵列的测试数据,并将所述测试数据和所述基准数据进行比较以对所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器进行检测,其中,所述第一基白区域用于将所述第二发光器发射的光反射至所述第二感光器阵列,所述第二基白区域用于将所述第一发光器发射的光反射至所述第一感光器阵列,所述第一感光器阵列和/或所述第二感光阵列用于根据接收到的反射光得到所述测试数据。
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