[发明专利]双面扫描装置及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种双面扫描装置及其检测方法。

背景技术

随着人们处理大量信息的需求，扫描仪得到广泛的应用，如支票扫描、身份信息扫描、纸币扫描等，现有技术中，扫描仪中用于获取扫描介质图像的光学器件通常有电荷耦合图像传感器(简称CCD)和接触式图像传感器(简称CIS)等。随着使用时间的延长，扫描仪的光学器件的光源会发生衰减，降低了扫描图像的灰度，而图像灰度的下降会影响图像质量和对扫描图像的准确识别；另外，在使用过程中光学器件的透光板表面残留灰尘或介质的残渣或刮痕，从而导致在扫描图像中出现暗线甚至黑条。因此，在扫描仪的使用过程中需要对光学器件进行及时检测，出现问题时进行维护，以保证图像的扫描质量。

传统的单面扫描仪包括一个光学器件和与光学器件相对的白条，利用白条可以对光学器件进行检测。然而，对于两个光学器件相对设置的双面扫描仪来说，由于没有空间在扫描仪内部设置分别与两个光学器件相对的白条，因此只能通过人工定期使用校准介质对光学器件进行检测。这种方法的缺点是操作复杂，及时性不强。

针对相关技术中双面扫描装置检测难度比较大的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

针对相关技术中双面扫描装置检测难度比较大的问题而提出本发明，为此，本发明的主要目的在于提供一种双面扫描装置及其检测方法，以解决上述问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种双面扫描装置。该双面扫描装置包括：第一图像传感器，该第一图像传感器包括：第一发光器，用于发射光；第一基白区域；第一感光器阵列，第二图像传感器，该第二图像传感器包括：第二发光器，与第一基白区域相对设置，用于发射光；第二基白区域，与第一发光器相对设置；第二感光器阵列，第一存储器，用于存储基准数据；控制器，用于接收来自第一感光器阵列和/或第二感光器阵列的测试数据，并将测试数据和基准数据进行比较以对第一图像传感器和/或第二图像传感器进行检测，其中，第一基白区域用于将第二发光器发射的光反射至第二感光器阵列，第二基白区域用于将第一发光器发射的光反射至第一感光器阵列，第一感光器阵列和/或第二感光阵列用于根据接收到的反射光得到测试数据。

为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，提供了一种双面扫描装置的检测方法。该检测方法包括：第一图像传感器经由第二图像传感器上的第二基白区域对自身进行检测，得到第一测试数据，其中，所述第二基白区域用于将所述第一图像传感器上的第一发光器发射的光反射至所述第一图像传感器上的第一感光器阵列，和/或第二图像传感器经由第一图像传感器上的第一基白区域对自身进行检测，得到第二测试数据，其中，所述第一基白区域用于将所述第二图像传感器上的第二发光器发射的光反射至所述第二图像传感器上的第二感光器阵列，将所述第一测试数据和/或所述第二测试数据与基准数据相比较以对所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器进行检测。

通过本发明，采用上述提到的双面扫描装置及其检测方法，解决了相关技术中双面扫描装置检测难度比较大的问题，进而达到了方便高效地对双面扫描装置进行检测的效果。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明第一实施例的双面扫描装置的示意图；

图2是根据本发明第二实施例的双面扫描装置的示意图；

图3是根据本发明实施例的图像传感器的示意图；

图4是根据本发明实施例的两个图像传感器相对安装的示意图；

图5是根据本发明第一实施例的图像传感器检测方法流程图；

图6是根据本发明第二实施例的图像传感器检测方法流程图；

图7是根据本发明第三实施例的图像传感器检测方法流程图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

图1是根据本发明第一实施例的双面扫描装置的示意图。

如图1所示，该双面扫描装置包括：控制器12，第一存储器和光学器件，其中，该光学器件包括第一图像传感器40和第二图像传感器30，该第一存储器可以为FLASH存储器16。

其中，FLASH存储器16与控制器12连接，用于存储图像传感器的各种测试数据，如初始基准数据、历史基准数据等。