[发明专利]液晶显示面板的测试方法有效
| 申请号： | 201010293387.6 | 申请日： | 2010-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN102411236A | 公开（公告）日： | 2012-04-11 |
| 发明（设计）人： | 蓝伟庭;郑如恬;颜呈机 | 申请（专利权）人： | 立景光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1362 | 分类号： | G02F1/1362;G02F1/13;G01R31/02;G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种液晶显示面板的测试方法，其中显示面板包括多个像素与一测试垫，这些像素设置在第一至第三数据配线与多条扫描配线的交错处，且所述液晶显示面板的测试方法包括下列步骤：驱动每一扫描配线，以将这些像素的液晶电容导通至第一至第三数据配线；分别提供第一测试电压与第二测试电压至第一数据配线与第二数据配线，其中第一测试电压不等于第二测试电压；将第一数据配线浮接；以及，通过测试垫测量浮接的第一数据配线，以判定电性连接至第一数据配线与第二数据配线的像素中的液晶电容是否电性相连。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶显示 面板 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种液晶显示面板的测试方法，其中该液晶显示面板包括多个像素与一测试垫，这些像素设置在一第一至一第三数据配线与多条扫描配线的交错处，且该液晶显示面板的测试方法包括：驱动每一这些扫描配线，以将这些像素的液晶电容导通至该第一至该第三数据配线；分别提供一第一测试电压与一第二测试电压至该第一数据配线与该第二数据配线，其中该第一测试电压不等于该第二测试电压；将该第一数据配线浮接；以及通过该测试垫测量浮接的该第一数据配线，以判定电性连接至该第一数据配线与该第二数据配线的这些像素中的液晶电容是否电性相连。
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